掺磷纳米硅薄膜的微结构

采用喇曼(Raman)散射谱、高分辨率电子显微镜(HRTEM)和原子力显微镜(AFM)对掺磷纳米硅薄膜的微结构进行了分析,并对纳米硅薄膜的传导机制进行了探讨.结果表明:掺磷纳米硅薄膜由尺寸为2～4*#nm的晶粒和2～3个原子层厚的非晶界面构成,计算得到薄膜的晶态比为40%～55%.与本征纳米硅薄膜相比,掺磷纳米硅薄膜晶粒尺寸和晶态比没有明显变化,电导率却提高了2个数量级.随着掺磷浓度增加,纳米硅薄膜的晶粒尺寸、晶态比及电导率逐渐增大.AFM观察表明掺磷纳米硅薄膜由尺寸介于15～20*#nm的团簇构成,团簇排列具有带状特征.     

金属材料表面形貌对微观力学行为的影响

利用原子力显微镜对不同金属试件表面的三维形貌进行了定量表征和分析,并通过建立有限元模型研究了表面微观应力集中的分布及变化.结果表明:不同的表面处理方式、不同的材料性质对表面微观形貌的影响非常明显,而且在金属表面,微观应力的分布与其微观形貌紧密相关,当表面处理方式改变时,表征参数的全面改变是导致微应力集中变化的主要原因,在评价表面状态对疲劳性能的影响时,不能仅考虑表面粗糙度的改变,应当综合分析各表征参数的变化.     

扫描隧道显微镜对粘胶基碳纤维表面微观结构的研究

用扫描隧道显微镜（STM）对粘胶基碳纤维（RCF）表面的微观结构进行了研究，首次获得了原子级的RCF图像，对其原子间距作了精确地量化，并且尝试着将所得到的图像与高定向降解石墨（HOPG）相比较，以期对RCF的微观结构有更深入的了解，在原子级尺度上，发现了原子排列并不规则的石墨状结构，二维视图量化结果表明：相邻原子间距为0．142nm，最近六圆环中心的距离是0．253nm。     

功率谱密度(PSD)在评价超精密光学表面中的应用研究

用原子力显微镜对不同工艺下获得的超光滑反射镜基片进行了功率谱密度(PSD)检测,并对结果进行分析,以指导光学元件加工。     

单晶铝纳米级硬度试验研究

使用纳米硬度计对单晶铝进行了纳米压痕试验，利用原子力显微镜对压痕形貌进行扫描并计算硬度值，重点观察和分析了纳米级条件下单晶铝的硬度性质，结果表明，当压痕深度小于2000nm时，单晶铝纳米硬度存在尺寸效应现象；从材料性质的角度分析了纳米硬度尺寸效应现象；探讨了纳米硬度和传统硬度本质上的区别，指出其根本原因在于不同尺度下人们对材料性质的关注点不同。     

Investigation on the Thermal Conductivity of 3-Dimensional and 4-Directional Braided Composites

It is vital to choose a factual and reasonable micro-structural model of braided composites for improving the calculating precision of thermal property of 3-D braided composites by finite element method (FEM). On the basis of new microstructure model of braided composites proposed recently, the model of FEM calculation for thermal conductivity of 3-dimennsional and 4-directional braided composites is set up in this paper. The curves of coefficient of effective thermal conductivity versus fiber volume ratio and interior braiding angle are obtained. Furthermore, comparing the results of FEM with the available experimental data,the reasonability and veracity of calculation are confirmed at the same time.     

显微镜采集图象的自动化

介绍了一种利用ＰＣ机与单片机通讯控制显微镜载物平台作三维运动从而实现了自动搜索视场，自动聚焦的方法，文中较详细地介绍了作为自动采集系统前台控制和驱动部分的单片机系统的硬，软件结构，以及作为上位机的ＰＣ机的控制策略和软件流程，由于采用了微机技术并配以精密的机械传动机构，使得对数据的获取和分析快速，准确，克服了手动调节动作慢，误差大等问题，为以后进一步对图象信息进行分析处理提供了便利。     

非接触光学点位显微镜误差分析

对可用于非接触测量叶轮、曲面面形、软质材料工件形位误差的光学点位显微镜的测量原理及纵向瞄准、定位误差进行了分析，指出适当选择好参数，纵向定位瞄准误差从理论上可达±（１～３）μｍ。实验表明，被测工件表面漫反射特性对纵向定位瞄准有一定影响，其纵向定位瞄准分散值一般可控制在±（３～５）μｍ左右。该装置是一种非常实用、使用方便的纵向定位瞄准装置。     

精密工作台重复精度的测量

论述了亚微米精度工作台动态重复精度测量的新原理及方法．其精度达±０．０２～±０．０８μｍ．