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Parylene—一种新型机载设备覆型防护涂层材料 总被引:7,自引:0,他引:7
王永刚 《航空精密制造技术》2002,38(1):16-18
介绍一种用于机载电子设备上的新型高分子材料Parylene的汽相成膜过程和优良的防护性能。 相似文献
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派瑞林(Parylene)薄膜主要用于功率电刷的三防,确保电功率的稳定传输。本文对两种规格(17和27 μm)Parylene薄膜的厚度、热性能、绝缘性能、在铍青铜上的附着性能以及耐空间辐照性进行了研究。结果表明:通过真空气相沉积法制备的Parylene-C涂覆材料厚度误差可控在2 μm内;膜层在铍青铜上的附着力等级为1级,薄膜热分解温度为453 ℃,两种厚度薄膜击穿电压分别为3.65 kV(17 μm)和5.27 kV(27 μm);经2.5×1015 p/cm2质子辐照后,膜层外观均完好,附着性能、热性能、绝缘性能仍满足工程使用需求;经2.5×1016 e/cm2电子辐照后,膜层出现严重开裂、起皮现象。对电子辐照前后膜层的热性能、红外结构等进行了进一步的研究,分析了电子辐照后膜层的失效机理并获得了Parylene-C涂覆材料膜层耐空间电子辐照上限为1×1014 e/cm2。 相似文献
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基于真空羽流试验的洁净真空系统设计 总被引:5,自引:2,他引:3
研制的洁净真空系统可用于真空羽流试验及热真空试验研究.详细介绍了真空系统的组成、方案设计及工作模式;计算了不同工作模式下的真空抽气时间;分别对罗茨泵机组、分子泵及低温泵进行了容器极限抽速测试,测试结果表明,满足技术指标;最后对真空容器压力维持能力进行了测试,测得容器平均压升率为0.111Pa/h,对应的平均漏气率为7.24Pa·L/s,真空容器达到了较高的工艺水平.真空系统有多种工作模式供选择,可根据试验需求及故障模式选取,增加了“真空羽流效应实验系统”运行的实用性和经济性. 相似文献
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空间的热真空环境是造成光电子器件胶接材料性能退化和放气污染的重要因素.为此,考察了几类典型胶接材料的热真空老化和热真空挥发特性,分析了热真空老化后的力学性能变化及真空挥发产物的主要来源,并对热真空挥发预处理方法进行了验证.结果表明软质的硅橡胶与硬质的环氧树脂胶和丙烯酸树脂胶相比有着更大的质量损失,且含有端羟基的缩聚型硅橡胶和环氧树脂胶真空老化后的模量变化较大.通过真空预处理可以作为降低固化胶真空挥发产物来源的一种有效手段.可为宇航用光电子器件胶接材料的设计选型提供参考依据. 相似文献
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针对Cessna(塞斯纳)172R飞机真空系统故障率高的现象,研究了现有机载真空压力调节活门的结构特点,为该机型的真空系统设计一种缝隙式真空压力调节活门,该活门可视情况及时地清除缝隙部位污物,从而降低真空系统的故障率,提高飞机的安全性。 相似文献
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介绍了真空正压气淬炉的基本结构、主要性能和特点,列举了典型实例说明利用该炉进行真空热处理和真空钎焊的使用效果。 相似文献
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AZ91镁合金负压消失模铸造充型速度的研究 总被引:9,自引:0,他引:9
真空度、浇注温度及模样厚度对AZ91镁合金消失模铸造充型速度影响的全因子实验的结果表明 ,它们都对充型速度起积极的作用 ,真空度是决定充型速度的一个关键工艺参数。在不抽真空时 ,充型速度非常小且随充型过程的进行逐渐降低 ,浇注温度对充型速度的影响也很小 ;抽真空时 ,充型速度在充型过程中不断变化且呈现不出任何规律 ,其起伏的幅度随真空度、浇注温度和模样厚度的增大而增大 ;在真空度较低时 ,随着真空度和 或浇注温度的提高 ,平均充型速度迅速增大 ,真空度与浇注温度对充型速度的交互作用增强 ;在较高的真空度下 ,平均充型速度仍随浇注温度的提高而增大 ,但平均充型速度的增大速率却随真空度的进一步提高而降低 ,真空度与浇注温度对充型速度的交互作用很弱。模样厚度对平均充型速度影响在抽真空时有所提高。 相似文献
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飞机真空废水排放管路常因管路内壁堆积废物导致堵塞,进而降低真空排污系统的功能。为有效减少管路内废物堵塞对真空排污系统的影响,波音公司收集多家运营商对真空废水系统的维护经验及反馈,提出再循环法清洁废水排放管路可以有效预防和减少排污管路内废物的堆积。再循环法主要通过化学浸渍和机械冲洗除去废水管内积聚的污物,是一种预防性维护措施,可提高真空排污系统的使用周期。 相似文献
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本文阐述了真空钎焊技术的优点及铝合金真空钎焊机箱的应用和加工的重要性,突出了机载装备中真空钎焊的必要性。其次,本文以某型号机箱为例,围绕着铝合金真空钎焊机箱加工的四个方面详细地加以介绍、描述和总结了加工工艺及要点。最后,本文指出了铝合金真空钎焊机箱能够提升航空电子系统的整体效能,只有通过提高工艺水平,规范生产流程,才能确保机载电子设备机箱的生产和质量稳定,提高生产效益。 相似文献
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采用Ni-Cr-B钎料分别在1120℃/10 min和1120℃/10 min/2 MPa的工艺下实现FGH96与DD6的钎焊连接。测试两种工艺下接头的抗拉强度,通过光学显微镜(OM)、扫描电子显微镜(SEM)和电子探针(EPMA)分析接头的组织、成分和断口。结果表明:真空加压钎焊所得接头的室温平均抗拉强度达到1187 MPa,远高于真空钎焊接头621 MPa的强度;与不加压的真空钎焊相比,真空加压钎焊所得FGH96/DD6接头的钎缝中心没有平行于被焊面的晶界,而是单个晶粒贯穿整个钎缝,并与母材连接面发生韧性断裂;真空钎焊接头中存在Ni3B相,而真空加压钎焊钎缝中并没有残留的Ni3B相,主要由(Ni,Cr)固溶体组成。 相似文献