破坏性物理分析(DPA)在高可靠半导体器件质量验证中的作用

文章介绍了破坏性物理分析(DPA)内容,以及它在高可靠性半导体器件质量验证中的作用。通过大量的数据表明,DPA 能有效地评价半导体器件的批质量.     

空间站常用元器件的霉菌敏感性研究

为研究空间站常用元器件的霉菌敏感性,选取空间站常用11大类元器件,针对霉菌对元器件的可能影响进行深入分析。基于空间站特定霉菌环境设计了加速试验方案,研究建立了基于元器件损伤程度的敏感等级分类方法,获取了不同元器件对霉菌的敏感性结果以及对应的敏感部位,为后续空间站用元器件质保工作的完善奠定基础。     

商用微电子技术在卫星辐射环境中的应用

汇总了商用器件的辐射效应,讨论了这些器件的辐射敏感度,讨论了对其危害的评估方法和必要时的回避技术,以帮助设计师和项目管理人员在空间辐射环境中用好这些商用器件。     

用10 MeV质子和钴60 γ射线进行CCD空间辐射效应评估

文章用10MeV质子和钴60γ射线对CCD(Charge Coupled Device)进行了辐照试验,分别计算得到了电离总剂量和位移效应的失效剂量。通过分析比较得出:在空间环境中,相对于电离总剂量效应而言,位移效应对CCD的损伤更为严重。因此,进行CCD辐射效应评估时,不仅要考虑电离总剂量效应,还要考虑位移效应。文章还探讨了评估CCD抗位移损伤能力的方法。     

宇航元器件应用验证系统工程研究

在调研国内外宇航元器件应用验证研究及工程实践的基础上,总结了我国宇航元器件应用验证的目标和特点,即以解决元器件宇航应用可用度评价并促进成熟应用为目标,具有多阶段、多领域、多目标、多任务和多参与方等特点。分析了应用验证的复杂性、层次性、整体性、环境适应性等复杂系统特性;在论证系统工程理论和方法指导宇航元器件应用验证研究适用性的基础上,建立了系统工程视角下的我国宇航元器件应用验证技术框架体系,凝练出一套集成的应用验证成果体系。应用验证工程实践表明,应用验证研究成果具备有效性和科学性,但仍需不断丰富和完善。