Weibull过程的恒定应力加速寿命试验（Ⅱ）

本文研究了Weibull过程的双应力恒定应力加速寿命试验的统计分析问题,并给出了通常应力水平下均值函数m_(00)(t_0)的推断方法。     

负二项分布环境因子的经典限

本文推导了负二项分布环境因子的非随机化最优置信限和随机化最优置信限,并讨论了严酷环境下的试验信息与良好环境下的试验信息相互折算的问题。为了满足工程实际的需要,我们也给出了部分表值。     

Gompertz模型可靠性增长的分析方法

本文给出了Gompertz模型三个参数的最小二乘估计和极大似然估计,该结果弥补了文[1]所给出的方法的一个最大缺陷。最后给出了一些数值例以说明这些方法。     

正态分布可靠寿命经典近似限的改进

本文给出了正态分布可靠寿命的又一个经典近似下限，经验证，本文所给出的结果的精度比已有的结果精度要高，可提供给可靠性工程人员使用。     

正态分布失效率的区间估计

基于正态分布N(μ,σ~2)的完全样本,在μ未知,σ~2已知时,本文给出了正态分布失效率的经典限、Bayes限和Fiducial限;在μ,σ~2均未知时,给出了失效率的Bayes限和Fiducial限。最后我们顺便得到了对数正态分布失效率的区间估计并用实例说明了这些方法。     

负二项分布可靠性增长的经典分析方法

本文用经典分析方法研究了负二项分布的可靠性增长问題。研制规划由m个阶段组成,每个阶段的失败概率(即不可靠性)满足条件:q_1≥q_2≥…≥q_m,在此条件下,我们得到了qi,i=1,…,m的约束极大似然估计以及最末阶段不可靠性q_m的经典置信上限。我们也讨论了在Bayes分析方法中,如何选取参数的验前分布问题并给出了趋势检验方法。几何分布可靠性增长的相应结果可从负二项分布可靠性增长的结果直接给出。最后用数值例说明了这些方法。     

Weibull过程的恒定应力加速寿命试验（Ⅰ）

本文给出了Weibull过程的恒定应力加速寿命试验的统计分析方法。当形状参数已知时,在定数截尾试验情况下,得到了通常应力水平下均值函数m_0(t_0)的伪最佳线性无偏估计;在定时截尾试验情况下,得到了m_0(t_0)的最小二乘估计。当形状参数已知和未知时,基于定数截尾和定时截尾试验数据,给出了m_0(t_0)的极大似然估计和大样本渐近置信区间估计。     

确定电子产品MTBF增长的经典分析方法

本文用经典分析方法研究了经历研制试验的电子产品失效率(或MTBF)的问题。假设研制规划由m个阶段组成,在每个阶段中受试的产品是类似的;此外,假设电子产品的失效率满足:λ_1≥λ_2≥…≥λ_m。我们得到了λ_i(i=1,2,…,m)的约束极大似然估计和λ_m的经典置信限。最后用数值例说明了这些方法。     

AMSAA模型分组数据的分析方法

本文介绍了AMSAA模型分组数据的一种处理方法,详细地推导了模型参数的极大似然估计,给出了模型的趋势检验统计量和拟合优度检验统计量,并将这些结果推广到多台同型系统同步进行可靠性增长试验的情况,最后给出了一些应用实例。