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| 确定电子产品MTBF增长的经典分析方法 | |
| 引用本文： | 田国梁.确定电子产品MTBF增长的经典分析方法[J].强度与环境,1989(1):1-5. |
| 作者姓名： | 田国梁 |
| 作者单位： | 北京强度环境研究所 |
| 摘 要： | 本文用经典分析方法研究了经历研制试验的电子产品失效率(或MTBF)的问题。假设研制规划由m个阶段组成,在每个阶段中受试的产品是类似的;此外,假设电子产品的失效率满足:λ_1≥λ_2≥…≥λ_m。我们得到了λ_i(i=1,2,…,m)的约束极大似然估计和λ_m的经典置信限。最后用数值例说明了这些方法。 |
| 关 键 词： | 失效率预计 极大似然估计 寿命试验 可靠性评价 |
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