宽频带高平坦度传导电磁敏感性注入探头研究

集成电路和电子设备的小体积、高密度和高时钟频率的发展趋势，导致严重的电磁兼容问题，特别是电磁敏感性问题。集成电路和电子设备的电磁敏感性水平对其优化设计至关重要，而宽带脉冲注入探头广泛用于集成电路和电子设备的传导电磁敏感性测试。根据集成电路和电子设备的传导电磁敏感性测试需求，通过分析宽带脉冲注入探头的工作原理、影响工作带宽及平坦度的因素，进行宽频带高平坦度的宽带脉冲注入探头的方案设计，通过多线并绕、磁芯与外壳匹配设计、高频段阻抗匹配等方法，研制出宽频带高平坦度的宽带脉冲注入探头。测试结果和实际应用结果表明：所研制的宽带脉冲注入探头实现了工作频率覆盖9 kHz～1 GHz、平坦度小于5 dB的性能指标，可以满足开展传导电磁敏感性测试的需求。     

抗辐射模拟CMOS集成电路研究与设计

为研究宇宙辐射环境中航天器里的模拟互补金属氧化物半导体(Complementary Metal Oxide Semiconductor,CMOS)集成电路性能和各种效应,并在辐射效应所产生机制的基础上,从设计和工艺方面提出了模拟CMOS集成电路主要抗辐射加固设计方法.在宇宙环境中,卫星中的模拟CMOS集成电路存在CMOS半导体元器件阈值电压偏离、线性跨导减小、衬底的漏电流增加和转角1/f噪声幅值增加.所以提出了3种对模拟CMOS集成电路进行抗辐射加固的方法:1)抗辐射模拟CMOS集成电路的设计;2)抗辐射集成电路版图设计;3)单晶半导体硅膜(Silicon on Insulator,SOI)抗辐射工艺与加固设计.根据上面的设计方法研制了抗辐射加固模拟CMOS集成电路,可以取得较好的抗辐射效果.     

针对FPGA内缺陷成团的电路可靠性设计研究

文章分析了集成电路内缺陷成团机理及其对集成电路成品率的影响 ,应用集成电路成品率预计模型 ,分析了FPGA内缺陷成团对片内冗余容错电路可靠性的影响 ,据此提出了缺陷成团时提高FPGA片内冗余容错电路可靠性的策略 ,建立了相应的可靠性分析模型 ,给出了FPGA片内冗余容错电路布局的一些指导原则。     

日本第二颗实用广播卫星出现故障

今年二月日本发射的第二颗实用广播卫星(BS-2b)按预定计划进入了静止轨道,并作了试播;效果较好。到六月初卫星突然出现故障,中断了电视转播。这次故障是美国通用电气公司生产的集成电路失灵,集成电路是用于存贮向星上计算机中心处理装置发送程序的。据日本宇宙开发事业团一官员称,这次故障是偶然的,并立即启用了备用集成电路,恢复了电视转播。备用集成电路将工作五年以上,其可靠性达99.6％。因此宇宙开发事业团坚持按原计划七月中旬将卫星移交给日本广播协会。广播协会认为,尽管卫星使用了备用集成电路后工作正常,但对它的未来的工作仍有怀疑。这是因为该协会接管第一颗实用广播卫星(BS-2a)后,仍不断出现故障。     

直接驱动数字集成电路的石英晶体振荡器

无线电技术的发展,使得石英晶体振荡器的应用日趋普遍。近几年来,数字集成电路的迅速推广应用,对石英晶体振荡器提出了新的要求。本文介绍的ZBM型薄膜电路石英晶体振荡器和ZH型混合电路石英晶体振荡器,是分别直接驱动MOS型和TTL型数字集成电路的新型件器。     

以软件为主实现IBM-PC/XT及其兼容机的GP-IB接口

IBM-PC/XT 及其兼容机(简称 PC 机)的 GP-IB 接口可以用大规模集成电路芯片来实现。但是,这种大规模集成电路芯片较昂贵,为此,开发了一种市场上容易买到、且价兼的芯片而以软件为主来实现具有控者、讲者和听者功能的 GP-IB 接口。文中介绍了这种接口的设计考虑、逻辑图和流程图。     

基于EDT的扫描测试压缩电路优化方法

为了在集成电路可测试性设计（DFT）中实现更有效的测试向量压缩，减少测试数据容量和测试时间，采用嵌入式确定性测试（EDT）的扫描测试压缩方案分别对S13207、S15850、S38417和S38584基准电路进行了优化分析，通过研究测试向量和移位周期等影响测试压缩的因素，提出了固定测试端口和固定压缩率的扫描测试压缩电路优化方法。结果表明，在测试端口数量都为2，压缩率分别为12、14、16和24时具有较好的压缩效果，与传统自动测试向量生成（ATPG）相比，固定故障的测试数据容量减小了3.9~6.4倍，测试时间减少了3.8~6.2倍，跳变延时故障的测试数据容量减少了4.1~5.4倍，测试时间减少了3.8~5.2倍。所提方法通过改变测试端口数和压缩率的方式讨论了多种影响测试压缩的因素，给出扫描测试压缩电路的优化设计方案，提高了压缩效率，并对一个较大规模电路进行了仿真验证，可适用于集成电路的扫描测试压缩设计。      

袖珍多功能集成电路鉴别、测试器

美国HY-Tronix 仪器公司生产的MYRIAD/XK袖珍多功能集成电路鉴别、测试器是当今电子工程师和无线电爱好者必备的仪器。该测试器体积与一块袖珍电子计算器大小相当。仪器表面有一个供测试集成电路的插座,可对双列直插式、管脚在40针以内的各种集成电路进行测试,结果由液晶显示器显示。测试所需时间为0.1秒,型号鉴别所需时间只有几     

FPGA可配置资源测试方法研究

FPGA是广泛应用于集成电路设计等多种领域的关键器件之一,随着FPGA的迅速发展,对FPGA的测试得到了广泛重视和研究,其测试技术也越来越复杂。本文以XILINX公司的Virtex XCV300E器件为基础,研究了基于93000集成电路测试系统的FPGA器件测试技术,为FPGA的应用级测试提供了一种有效的方法。     

基于微处理器的同步串行接口技术研究

设计了一款基于SPI接口的同步串行通信模数转换电路，通过使用MCU片内寄存器配置编程与I/O口模拟时序输出编程的不同方法实现了芯片间SPI同步串行通讯，适应了具有多路SPI通讯接口的复杂集成电路系统设计需求，该技术具有较高的工程应用价值。     

北京轩宇空间科技有限公司

正www.sunwisespace.com北京轩宇空间科技有限公司IC事业部(以下简称IC事业部)负责宇航微系统与微电子产品的研制、生产、销售和应用支持;承接客户委托的集成电路设计,向客户提供自主产权集成电路的系统解决方案;同时也是北京控制工程研究所星载计算机、电子线路、系统软件等产品的技术孵化和市场推广平台。全面覆盖宇航系统和高可靠性要求处理器、存储器、总线控制器、专用ASIC、AD、DA、SoC和SiP等集成电路和微系统电子产品的研制、生产、销售及应用支持。经过近10年的发展,IC事业部建立了从40～130nm的SoC、SiP、专用ASIC技术研发平台,积累了若干自主知识产权的IP核,     

微波技术与测量仪器的新进展—砷化镓微波集成电路的开发

简要的介绍了近几年来微波技术和测量仪器的新进展,着重介绍了砷化镓微波集成电路的开发,及其在微波系统中的应用,以及相应的测量技术的发展。     

芯片大小的卫星

芯片大小的卫星随着微电子技术和小卫星技术的进一步发展，未来将出现象计算机芯片那样大小的卫星。设计这种“芯片卫星”的思路是，将卫星的部件和仪器进一步微型化，使其能集中到一块集成电路或一块芯片上。空间时代初期，卫星只有几公斤重。从６０年代到８０年代，运载...     

气象卫星HRPT信息模拟器设计

介绍了气象卫星HRPT 信息模拟器的基本构成和设计方法。由于编码器采用了大规模集成电路EPROM,装置具有结构紧凑、模拟灵活、信息量大等特点,设计方法适用于同类型模拟器。     

退火算法在电子元件位置优化上的应用

一块电路板上有电子元件，它们不仅有热源，而且相互和，另外与空气还交换热，对这类问题建立线性数学模型，从而算出温度稳态分布，因为许多集成电路系统可靠性很大程度上取愉于温度，所以温度的模拟显向很重要性，把温度模型与退火算法相结合可以获得元件最接近优化的布局，并用一个例子加以说明，通过优化能降低板子最高温度，从而提高系统的可靠性。     

多分辨率重采样实时解压缩硬件系统研制

主要介绍基于多分辨率重采样算法的图像实时解压缩硬件系统体系结构的设计，首先描述多分辨率重采样算法的解压流程；而后提出实现多分辨率重采样解压算法的超大规模集成电路结构；最后以可编程序门列成功实现，实验表明，解压缩硬件系统数据处理速度快，满足图像恢复实时性要求。     

一种低功率易校准的温度传感器

本文描述一种具有内部参考的改进的线性集成电路温度传感器,其主要的性能是:易校准(只有一个步骤),在宽温度范围内(-4.6mv/℃;-50℃到+125℃)具有高灵敏度,低输出阻抗(40Q),低功耗(200μw)。此器件中的扩散电阻以通用线性集成电路的工艺过程制造。文中还讨论了这种传感器在热电偶冷接点补偿中的应用。     

多分辨率重采样压缩算法硬件系统体系结构研究

主要介绍基于多分辨率重采样算法的图像实时压缩系统体系结构设计。文章首先简要描述多分辨率重采样图像压缩算法 ,然后探讨以硬件系统实现该算法所可能采取的多种不同体系结构。在分析比较各种体系结构特点基础上 ,重点阐述以大规模专用集成电路作为系统核心的体系结构 ;为完成多分辨率重采样图像压缩专用集成电路设计 ,对压缩算法进行了并行化、模块化、层次化处理 ,提出实现多分辨率重采样图像压缩算法的超大规模集成电路结构 ,并且以可编程序门阵列实现。实验结果表明 ,以该结构实现的硬件压缩系统 ,在保证恢复图像质量前提下 ,体积小、质量轻、功耗低、数据处理速度快 ,在原理上 ,满足星载环境对图像压缩系统的质量与处理速度要求     

CMV4000国产化替代芯片验证平台设计

本文开展了对CMV4000传感器国产化替代的研究工作以及芯片验证平台设计工作，替代芯片为上海集成电路生产的ASG043传感器芯片。本文首先通过元器件手册信息，从硬件电路和FPGA软件设计两个角度开展替代工作的研究。然后在搭载ASG043图像传感器的星敏感器上对电源以及图像传感器驱动代码进行设计修改，以满足国产ASG043传感器的供电，时序，训练等要求，ASG043成功运行后，对比替代前后黑白图及采集星点图像。由对比结果可知其成像效果与进口探测器相当，可在不更改印制板的条件下原位置替代CMV4000图像传感器。