理想导体表面电磁散射的高阶微扰解

针对经典微扰法（SPM）求解粗糙表面电磁散射特性存在的问题，提出了一种基于二维表面场的一阶和二阶展开近似高阶微扰算法。用该法计算了高阶表面场分量的全极化后向散射SPM解和二阶场分量对水平极化双站及后向散射系数的修正解。研究了不同粗糙度下掠入射时高阶SPM求解的双站散射系数，以及不同方位角下高阶场量的散射特性。通过对合成场的修正，解决了近掠入射条件下散射系数计算的误差。数值计算结果证明该算法有效。     

分形粗糙表面掠入射时的全极化指数计算

为分析经典解析法不能有效求解掠入射时粗糙表面的散射特性,用高阶微扰法计算了二维分形导体表面的后向散射系数。计算值与测量值的比较证明了高阶微扰法的有效性。对不同粗糙度下掠入射时全极化指数的研究,获得了不同入射条件下极化指数与掠入射角余切函数曲线的拟合和有效表达式,修正了前人的结论,并发现用高阶解析法可区分粗糙表面的类型。     

高斯粗糙表面电磁散射的曲率修正双尺度法

在传统双尺度法分析粗糙表面电磁散射特性的基础上，通过对大尺度切平面的曲率修正。给出了小入射角时改进双尺度法的计算模型。采用传统微扰法和基于圆柱曲面修正的微扰法，计算了实际粗糙面掠入射时的后向散射系数，并与有关测量值进行了比较。结果表明，在中、小入射角及掠入射条件下，基于曲率修正双尺度法的计算结果与实际值均较为相近，证明该方法有效。