一种检测和校正存储器双错的低冗余加固方法

为了提高宇航用存储器的抗单粒子翻转能力,本文对传统的单错误修正、双错误探测（Single Error Correction and Double Error Detection, SEC DED）码的构造进行了改进和优化,给出了构建单错校正、双错检测、相邻双错校正（Single Error Correction, Double Error Detection and Double Adjacent Error Correction, SEC DED DAEC）码奇偶校验矩阵的构造规则。通过适当地增加奇偶校验矩阵列向量的权重和、改变奇偶校验矩阵列向量顺序的方式,提出了一种具有新特征结构的SEC DED DAEC码,它可以修正任意相邻两位错误。实验结果表明,提出的SEC DED DAEC码是一种有效的宇航用存储器抗单粒子翻转加固措施,其冗余开销基本与传统的SEC DED码相同,误码率低于国际同类文献的结果。     

光学遥感图像星上实时处理技术的研究

随着各种高分辨对地光学遥感器的发展,获取的遥感图像数据量呈爆炸性增长.发展光学遥感图像星上实时处理技术,是提高遥感图像数据的有效利用率、使其反演结果尽早反映观测区域实况的重要途径之一.文章分析了当前星上实时处理技术的发展现状,提出了采用开放式架构、以高性能的DSP/FP.GA为处理核心的处理系统的构建方法和关键技术,以实现可伸缩的功能扩展和对星上传感器获取的海量数据流图像的星上实时处理.     

先进制程芯片在轨飞行验证通用系统设计

中国空间站的建立为国产先进制程芯片提供了真实的在轨飞行验证条件。为实现不同种类、不同型号国产先进制程电子元器件在空间辐射环境中的验证,设计了一种通用的在轨飞行验证系统。系统采用“主控单元+试验单元”的平台架构,运用在轨可更换模块和可重构的系统设计,支持航天员定期在轨更换试验模块以完成验证任务的在轨升级。文中给出系统的硬件设计、软件数据管理机制以及在轨飞行验证结果。结果表明,该系统设计有效,成功完成了16 nm FinFET、28 nm亿门级FPGA、高速DAC等10类20余款国产先进制程芯片的在轨工作监测,可为国产先进制程芯片空间适用性研究提供参考。