用准光腔自动测试大面积介质复介电常数的平面分布

介绍了用准光腔法自动测量某大面积介质片上不同位置的复介电常数,并且做了误差分析.实验表明,此系统可在3 mm波段下对大面积材料的复介电常数分布进行测量,具有大面积、快速、不接触测量且分辨瑕疵的特点.误差范围为|△ε'/ε'|≤10%;|△tanδ |≤20%tanδ+1×10-4.     

低损耗介质材料复介电常数的变温测试

采用TE015模高Q圆柱腔对X波段低损耗介质材料的复介电常数进行了变温测试,电场的极化方向平行于样品表面.可测温度范围为常温到200℃.在所有温度点上,空腔的无载品质因数均大于40000.复介电常数的测试范围为εr1.05～10,tanδ3×10-2～5×10-5,测试系统的最可几误差为|Δεr / εr|=1.5% ,|Δtanδ|=10% tanδ+3.0×10-5.     

介质材料复介电常数变温测量技术综述

介绍了在微波及毫米波段介质材料复介电常数在-253—1400℃的变温测试方法，即网络参数法和谐振腔法，并对这些方法进行了优缺点分析，总结出变温测试方法的概况、趋势及技术特点。     

高Q腔法测试透波材料毫米波复介电常数

介绍了透波材料毫米波复介电常数自动测试方法,采用高Q腔一腔多模扫频(18～40 GHz)方法测试了微波低损耗圆盘状介质材料,谐振腔工作在TE10p模式,电场的极化方向平行于样品表面.为适应毫米波段材料测试的要求,在设计测试用宽频高Q值谐振腔时,改变以往工作中腔壁开槽位置以抑制TM1mn简并模,对测试用谐振腔的设计大大减小了测试误差.用此系统对几种低损耗材料进行测量,结果证明谐振腔有效Ё抑制了干扰模式,减小了测试误差.对测试结果进行了误差分析,系统的最可几测试误差为:|△εr/εr|=2%;|△tanδ|=10%tanδ+5×10-5.     

磁性薄膜电磁参数测试技术

介绍了近15年国内外在磁性薄膜材料电磁参数测试方法的概况及技术特点,这些方法主要包括带状线法、微带线法、波导法及共面波导法、终端阻抗及短路法和谐振腔法。     

重入式谐振腔法低损耗材料复介电常数测试系统

利用重入式谐振腔针对微波低频段复介电常数测试问题进行了研究,建立了测试系统并对样品进行了测试,验证了该测试方法的可行性.相对于其他同频段的测试方法,其具有体积小、测试精度高、样品放置方便等优点.     

TM0n0 圆柱腔测量介质复介电常数

讨论了TM0n0模圆柱腔法测量介质复介电常数的原理,提出了一种TM0n0模圆柱腔设计的改进方法,研制了测试夹具,通过与未改进腔体比较和对石英样品复介电常数的测量。结果证明,该腔体大量抑制了圆柱腔的干扰模式数量,减小了测试误差,提高了测试准确度。     

自由空间法测量电磁材料电磁参数

基于对自由空间法测试材料电磁参量原理的研究,对传统方法进行分析及改进,解决了测试过程

中透射系数存在的相位模糊性和由于S11 →0 时导致的半波谐振问题,最后搭建了测试系统,并使用该系统对

常见的微波介质材料在2 ~18 GHz 频带下进行了电磁参数的测试。结果表明,由于天线性能特性的限制,此测

试系统4 ~14 GHz 范围内具有良好的效果。此测试系统具有测试速度快、结构简单、方便准确的定位、测试精

度高等特点。