| 高Q腔法测试透波材料毫米波复介电常数 |
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| 引用本文： | 吴超[],李恩[],郭高凤[],何凤梅[].高Q腔法测试透波材料毫米波复介电常数[J].宇航材料工艺,2009,39(1). |
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| 作者姓名： | 吴超[] 李恩[] 郭高凤[] 何凤梅[] |
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| 作者单位： | 1. 电子科技大学,成都,610054
2. 航天材料及工艺研究所先进功能复合材料技术国防科技重点实验室,北京,100076 |
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| 摘 要： | 介绍了透波材料毫米波复介电常数自动测试方法,采用高Q腔一腔多模扫频(18～40 GHz)方法测试了微波低损耗圆盘状介质材料,谐振腔工作在TE10p模式,电场的极化方向平行于样品表面.为适应毫米波段材料测试的要求,在设计测试用宽频高Q值谐振腔时,改变以往工作中腔壁开槽位置以抑制TM1mn简并模,对测试用谐振腔的设计大大减小了测试误差.用此系统对几种低损耗材料进行测量,结果证明谐振腔有效Ё抑制了干扰模式,减小了测试误差.对测试结果进行了误差分析,系统的最可几测试误差为:|△εr/εr|=2%;|△tanδ|=10%tanδ+5×10-5.
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| 关 键 词： | 圆柱谐振腔 复介电常数 微波测试 |
Millimeter Wave Complex Permittivity Measurement for Low Loss Dielectric Disks by High Q Resonance Cavity Method |
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| Wu Chao,Li En,Guo Gaofeng,He Fengmei.Millimeter Wave Complex Permittivity Measurement for Low Loss Dielectric Disks by High Q Resonance Cavity Method[J].Aerospace Materials & Technology,2009,39(1). |
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| Authors: | Wu Chao Li En Guo Gaofeng He Fengmei |
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