基于FPGA的M位并行分布式算法的FIR滤波器设计

介绍基于查找表结构的分布式算法的基本原理,提出M位并行分布式算法的实现方法。以2位并行分布式算法结构的FIR滤波器设计为例,在Altera Cyclone系列芯片上实现32阶12位FIR滤波器,并对其性能和资源占用进行分析。     

基于地球引力变轨的日冕探测器轨道设计

研究了相对黄道面有一定倾角的探测器轨道设计的问题。以金星借力轨道设计为例,分析了轨道偏心率与轨道倾角增量之间的关系。根据C3匹配原理搜索了“地球-中间天体-地球”多天体交会的发射窗口。最后,设计了与地球轨道周期相等的三次地球借力轨道,该轨道倾角可以达到黄纬30°以上。理论分析及仿真结果表明:基于地球引力设计此类轨道时,应采用多天体交会方案,才能既保证地球逃逸能量低,又保证首次飞入地球影响球前轨道偏心率较大的双重指标;同时应采用多次地球借力方案,该方案具有每次借力后轨道偏心率逐渐减小的特点,当其减小到零时,再次借力后轨道倾角不会继续增加。     

空间飞行器推进系统的故障检测

文中采用基于人工智能条件下的专家系统知识，应用门限算法进行故障特性提取和相应的故障推理机制研究，在由大量小发动机组成的空间飞行器推进系统实验中进行应用，通过已有的实验数据，离线回放表明此方法具有实时检测功能，可以解决工程实际问题。     

一种开放式数据清理框架

从提高制造业信息化中数据质量的角度出发,分析了建立基于规则库和算法库的可扩展数据清理框架的必要性,设计了一种基于多种规则结合不同算法以流程方式完成清理任务的可重构的数据清理框架。在框架的设计中,以实例方式总结了数据质量问题的分类,详细阐述了该框架的结构、组成部分以及工作流程。最后,通过数据清理实例说明了该框架中流程的实现及其工作过程。本文提出的数据清理框架功能将随着不同领域清理任务的完成而不断完善。     

基于FPGA的电动舵机控制器设计

针对传统的电动舵机控制器控制周期长的问题,提出了一种基于FPGA的电动舵机控制器设计方案.在完成硬件设计的基础上,通过建立高速浮点运算模块,解决了FPGA无法直接进行浮点运算的问题,从而实现了不完全微分PID控制,并给出了具体的控制周期和控制延迟.与传统的基于DSP的电动舵机控制器进行对比试验,试验结果表明,所提控制器设计方案能够有效缩短控制周期,提高控制效率,优化控制效果.     

CABAC算术编码器硬件优化实现

为了解决上下文自适应二进制算术编码器(CABAC,Context-based Adaptive Binary Arithmetic Coder)硬件实现吞吐率难以提高的问题,提出了基于数据流动态特性的电路优化方法.通过建立算法的数据流模型,提取出限制硬件实现性能的数据流反馈环路.针对上下文环路,采用3条迭代周期不同的子环路更新具有不同依赖周期的上下文变量,提高了时钟频率和吞吐率;对于字节打包环路,通过提取一类可简化电路结构的数据元素,并为之构建快速旁路,增加了环路的处理速度.基于上述方法并辅以基本的电路优化手段,设计实现在现场可编程门阵列(FPGA,Field-Programmable Gate Array)平台上频率可达309MHz,并且每个时钟周期处理一个编码符号.     

基于改进支持向量机的油液在线监测系统

搭建油液在线监测实验平台进行磨粒分类识别实验,运用支持向量机和最近邻法相结合的方法对飞机发动机油液中的磨粒进行分类识别;其中基于支持向量机的磨粒分类器的输入为磨粒的主轴长度、纹理相关性、圆度等特征参数,输出为磨粒的分类结果;实验结果表明,基于支持向量机的磨粒分类器的分类准确率高达94％,并且由于最近邻法的使用,分类器的处理速度也提高了30％。     

空间推进系统故障诊断专家系统研究

采用人工智能的方法,对空间推进系统进行了有效的分区,并利用文中介绍的组合红线算法进行故障判定,建立了空间推进系统故障诊断的专家系统。通过已有的实验数据、离线回放表明此方法具有实时故障诊断、事后故障分析、系统健康监控等功能、可以有效的满足解决工程实际问题的需要。      

数字式PID控制算法研究

研究和总结了弹箭体数字式PID控制算法及相应的系统分析综合方法。首先研究了数字积分和微分信息的实现算法和特性,然后在此基础上,总结出数字式PID控制器的两类实现算法及相应的系统频域分析综合方法,并通过对比提出了一种较简单实用的算法。为使用数字式PID控制者提供了理论基础、实用的算法和正确的系统分析综合方法。     

SOI结构材料红外吸收光谱的研究

用ＳＩＭＯＸ（Ｓｅｐａｒａｔｉｏｎｂｙ　Ｉｍｐｌａｎｔｅｄ　Ｏｘｙｇｅｎ，即氧注入隔离）技术制备ＳＯＩ－ＣＭＯＳ用的ＳＯＩ（Ｓｉｌｉｃｏｎ　ＯｎＩｎｓｕ　ｌａｔｏｒ，即绝缘体上长单晶硅膜）样品；对ＳＯＩ样品红外吸收光谱的分析，从而计算了ＳＯＩ结构材料中ＳｉＯ２埋层的厚度；测试样品不同点的红外吸收光谱，可考察样品ＳｉＯ２埋层厚度的不均匀性，据此，并可分析与之相关的ＳＯＩ样品的质量参数．这种分析方法，是一种无损的检测手段，具有实用价值．