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91.
YU Wei* LU Xue-qin LU Wan-bing HAN Li FU Guang-sheng College of Physics Science Technology Hebei University Baoding China 《中国航空学报》2006,19(Z1)
Nanocrystalline (nc) 3C-SiC films on the Si substrate were prepared by the helicon wave plasma enhanced chemical vapor deposi-tion (HW-PECVD) technique. With the SiH4-CH4 gas flow ratio changing, the films exhibit different photoluminescence (PL) character-istics. Under the stoichiometric condition, the PL peak redshift from 470 nm to 515 nm is detected with the increase of excitation wave-length, which can be attributed to the quantum confinement effect radiation of 3C-SiC nanocrystals of different sizes. However, the ap-pearance of an additional PL band at 436 nm in Si-rich film might be sourced back to the excess of Si defect centers in it. This is also the case for C-rich film for its PL band lying at 570 nm. The results above quoted indicate an important influence of gas flow ratio on the PL properties of the SiC films providing an effective guidance for analyzing the luminescence mechanism and exploring the high-efficiency light emission of the SiC films. 相似文献
92.
张小海 《南昌航空工业学院学报》2000,14(2):35-36
本文以圆孔状缺陷作为计算模型,推导了渗透检验过程中渗透深度与其它参数之间的动态关系,并对结果进行了分析和讨论。 相似文献
93.
目前,在基桩缺陷低应变分析方面,对基桩缺陷仅能给出定性评价,没有量化指标。主要研究的是在均匀土质中,在基桩单一缺陷量化分析模型及多缺陷量化分析模型的基础上应用计算机语言建立一个数据完整的低应变基桩单缺陷及多缺陷量化分析的软件系统,解决了基桩量化分析领域没有分析程序的难题。 相似文献
94.
95.
96.
吕洪显 《燃气涡轮试验与研究》2001,14(3):54-56
某型发动机Ⅱ级涡轮叶断裂故障,是长期困扰该型发动机承制厂的重大技术质量问题。通过对故障的研究,提出了解决断裂故障的改进措施。 相似文献
97.
98.
固体火箭发动机喷管粘接界面的超声检测 总被引:7,自引:2,他引:7
介绍了超声纵波多次反射法在固体火箭发动机喷管金属与非金属复合构件粘接界面无损检测中的应用原理,设计制做了对比试块用来考查方法的探伤灵敏度,并对实际样品进行了检测,证明该方法适用于现场检测和阵地探伤。 相似文献
99.
以T300碳纤维/环氧树脂基单向复合材料为例,考虑纤维周围间隙缺陷的影响,建立了基于微观图像识别的等效导热系数预估方法.首先利用图像识别技术处理材料微观电镜照片,然后依据纤维体积分数稳定性判据应用几何重构技术建立了代表性单元,并通过在代表性单元(RVE)内部交界面处添加接触热阻的方法引入间隙缺陷的影响,最终利用有限元方法模拟得到等效导热系数(ETC).研究发现:间隙的位置对等效导热系数影响微弱;随着间隙缺陷占比和厚度的增加,等效导热系数显著降低;间隙缺陷占比大于0.8,无量纲间隙缺陷厚度小于0.15时,单向纤维增韧复合材料的等效导热系数受间隙影响最突出;相对于纤维和基体理想接触的情况,考虑间隙缺陷后,等效导热系数最大降幅可达52.1%. 相似文献
100.
DING Wen-ge YU Wei ZHANG Jiang-yong HAN Li FU Guang-sheng 《中国航空学报》2006,19(B12):173-178
The hydrogenated amorphous silicon nitride (SiNx) thin films embedded with nano-structural silicon were prepared and the micro- structures at the interface of silicon nano-grains/SiNx were identified by the optical absorption and Raman scattering measurements. Characterized by the exponential tail of optical absorption and the band-width of the Raman scattering TO mode, the disorder in the interface region increases with the gas flow ratio increasing. Besides, as reflected by the sub-gap absorption coefficients, the density of interface defect states decreases, which can be attributed to the structural mismatch in the interface region and also the changes of hydrogen content in the deposited films. Additional annealing treatment results in a significant increase of defects and degree of disorder, for which the hydrogen out-diffusion in the annealing process would be responsible. 相似文献