教学评价系统的前端--测评器开发技术

本文重点介绍了教学评价系统的前端测评器的软硬件开发技术。测评器主要由三部分组成：1、客户端（AT89C51）；2、主控端（AT89C52）；3、计算机端（VC＋＋编写界面）。主控端通过串行总线与所有客户端通信。读入客户端数据存放在主控端的RAM中。主控端与计算机ISA总线相连，将主控端RAM中的数据送到计算机中去，然后由VC＋＋处理数据，最后计算机以文字、图形、声音的形式反映各个客户端的信息。测评器主要应用于中小学课堂、娱乐、投票、选举等方面，实现选择及抢答等功能。     

定向破坏复合材料层合壳体结构铺层的分析与设计

以复合材料层合板为基本材料设计了一种结构新颖的定向破坏复合材料层合壳体结构,在导弹与

该壳体结构的初始接触区域预制缺陷区,导弹发射时以四瓣形式开裂,大幅度提高了导弹的发射效率。利用ANSYS

有限元模拟分析软件,通过强度分析确定了最佳铺层设计方案,单层板厚度为0.2 mm,采用基体本身加强预

置缺陷区的[0°/90°/ ±45°]2S 铺层方式。该种铺层方式的爆破载荷为0.21 MPa,最小顶破载荷为1 kN,完全能够

满足其在工作环境下既能承受一定的压力不漏气又能在较小的顶破载荷下自行破裂的设计要求。

     

外弹道测量的定位误差对测速折射修正的影响

考虑了在外弹道测量中由于定位的测量误差（主要指常值误差）而带来的测速折射修正的误差。从折射修正的原理出发，推导了该项误差的表现形式。理论分析与仿真计算表明，在高准确度测量定轨中该项误差是不能忽略的。给出了扣除该误差的方法，以利于在数据处理中来消除该项误差，从而可提高定轨的准确度。     

Cr（Ⅵ）对镍沉淀的影响

采用周期伏安技术，恒电位阶跃法和恒电流阶跃法研究了Ｃｒ（Ⅵ）对镍电沉淀的影响。研究表明，正常镀镍液中，Ｃｒ（Ⅵ）在电极上形成一种“吸附膜”抑制Ｍｉ（２＋）离子的还原，此效应随ｐＨ值降低而减弱，并在一定ｐＨ值下发生Ｎｉ（２＋）离子的沉积。     

1dB增益压缩点的自动测试方法—对HP85016A／B系统软件的一项重大改进

ＨＰ８５０１６Ａ／Ｂ系统软件适用于在射频─—微波频段中使用ＨＰ８７５７Ｃ／ＨＰ８３５０Ｂ标量网络分析仪测试无源网络（部件）的传输／反射。讨论了确定在遥测系统广为使用的有源网络（部件）的线性区域的方法，提出了利用ＨＰ８７５７Ｃ标网本身进行１ｄＢ增益压缩的测试，以实现ＮＰ８５０１６Ａ／Ｂ自动化测试系统延伸到有源网络（部件）测试的设想，程序的实施及勺ＨＰ８５０１６Ａ／Ｂ完命地接融，从而关键性地扩大了ＨＰ８５０１６Ａ／Ｂ在遥测分系统测试的使用。     

SDF方法在目标图像处理中的应用

利用综合函数判断法（ＳＤＦ）对目标图像进行识别，能有效识别真目标的各种畸变图像及受过训练的假目标图像如干扰和背景等，并提出ＳＤＦ实时光学识别图像的可能。     

用定标块准确确定圆度仪的放大倍数

用定标块校准圆度仪的放大倍数时，一般是将定标块在圆度仪上测量的圆记录放大轮廓图用同心圆模板对线，找出凹下轮廓的径向放大值，然后除以定标块小平面弦高的实际值，其商即为放大倍数。但是，这种方法的缺点是测量准确度不高，不适用于圆度仪自动化程度日益提高带来的快速数字采样自动化校准放大倍数的要求。根据未抑制的定标块圆记录放大轮廓的凹下部分为一弦线的特点，推导了式（８）～（１３）。按要求的采样相邻点的夹角在弦线中点附近的直线上找出三个连续采样值，代入式（８）～（１３），可准确计算出圆度仪的放大倍数。用实例验证了这种新方法的准确性和可行性。     

圆度仪被测工件的自动对中

对Ｙ９０２５—Ｂ型圆度仪中被测工件的自动对中部分作了较为详细的介绍，其中包括基本工作原理、数据采集、电机控制及有关的软件框图等。该系统能自动把被测工件的偏心调至微米级。     

双轴旋转法

提出的旋转轴与旋转量确定法，可使《ＪＪＧ１１７─９１平板检定规程》规定的双轴旋转法做到有章可循；比《ＧＢ１１３３７─８９平面度误差检测》采用的旋转变换法更为简捷、实用，有助于规程与标准的贯彻执行。     

走向二十一世纪的制造技术—精益生产

精益生产是走向二十一世纪的制造技术，综述了精益生产的内涵和模式。