一种可移式触针测头

Renishaw公司新近推出了一种新型的机动接触式触发测头──TP20．使用这种测头时,无需专职人员就可以手动或自动方式改变测头触针的配置方式。TP20测头同所有已使用Renishaw公司TP20接触式触发测头的手动或CNC坐标测量机兼容。它采用了一种类似5通的机动触发机构，单向重复性指标达0.35μm.TP20测头在设计上主要由测头体及一个可拆式触针模块等两部分组成，触针模块则包括机动接触式触发传感器，并附有触针，使用这种磁附着可移式触针模块,无需重新设定数据基准，就可以手动或自动方式进行测头更换.因此，7P20测头的使用可显著提高标…     

基于三坐标测量机的线结构光快速高精度点云采集方法

利用集成在三坐标测量机上的线结构光测头，提出一种针对单个工件的点云采集方法，建立了线结构光和三坐标测量机的几何坐标系转化模型，将激光测头的二维测量数据统一到三坐标测量机机器的三轴坐标上，转换为三维数据，实现点云采集。通过解决运动状态下的三轴坐标位置锁存与数据传输间的迟滞关系，实现高效采集激光-光栅数据对，得以在连续触发模式下进行快速点云采集。     

用于精密和超精密测长的双频激光干涉仪

叙述了双频激光干涉仪在精密和超精密测长技术领域中的应用，讨论了双频激光干涉仪所涉及的关键技术，提出了在应用中需要进行的误差处理，目的是提高在精密和超精密测长应用中的测量精度。     

一种新型的扫描坐标测量机

美国BIDwn＆Sharp公司新近开发出一种扫描坐标测量机──ChameleonCMM.用户在使用这种新型的坐标测量机时，可以以非常快的速度在单点和多点数据采集模式间进行转换．该坐标测量系统除运用于要求高数据密度的工件形状检测外，还尤为适用于核柱形零件的传统式逐点测量．利用优化系统的尺寸分析技术（DATOS：DimensionalAnalysisTechnologyforOptimisingSystems），32Z控制器在数据传输200点／s的情况下可以支持高速模拟开环和闭环扫描时的高精度数据评估．Chameleon坐标测量机上可安装触发式、激光及模拟扫描式测头．为测得更多的工…     

英国雷尼绍公司数控机床性能测试技术简介

英国雷尼绍公司是一家生产三测机用测头及配件、数控机床用工件及对刀测头、激光干涉仪、球杆仪、高速高精数字化及扫描系统等产品的高新技术公司。它的全部技术与产品都旨在保证数控机床精度，扩大数控机床功能，改善数控机床性能，提高数控机床效率。既可保证和改善机床...     

英国RENISHAW公司的TP20测头系统

目前，世界上在测量机领域处于领先地位的生产厂家开始在其生产的产品上安装新型的RenishawTP20测头，与此同时，许多测量机的用户业已开始用TP20替换他们原先使用的测头。英国Renishaw公司生产的TP20测头具有如下特点：减少监测时间TP20洲头系统的测针设计可以根据实际需要迅速改变．而无需重新进行质量评定；减少测量的不确定性TP20系统能够以相同的测针触发力提供3种测头测量模式，可以满足一系列测量条件的要求；易于改型升级TP20测头系统不存在安装兼容性问题。使用时，只需换了原有的TP2或TP6装上TP20即可。另外，TP20的长度…     

数控机床刀具及工件测头的应用

雷尼绍机床测头应用介绍）　　在数控机床上使用工件及对刀测头进行自动测量，可方便工件的安装调整，简化工装夹具，降低费用，大大缩短机床辅助时间，提高生产效率，同时又可改善数控机床性能，延长机床的精度保持时间，使得数控机床既是加工设备，又具备某些测量功能。机床测头可安装在数控车床、加工中心、数控磨床等大多数数控机床上。雷尼绍的机床测头按功能分类，可分为工件检测测头和刀具测头；按信号传输方式分类，则可分为硬线连接式、感应式、光学式和无线电式四种方式。用户可根据机床的具体型号选择合适的配置。在数控加工过程…     

波面激光干涉仪在超精密加工中的应用

介绍了超精密加工的发展趋势和技术特点,介绍了波面激光干涉仪的测量原理及使用技巧,重点阐述了如何在超精密加工的多个环节,如工件检测、精密对刀、误差补偿中发挥波面激光干涉仪的作用。     

两米光栅——线纹自动测量仪（一）

描述了一台能够对长度达１ｍ的线纹尺和长度达２ｍ的光栅尺（线位移传感器）进行测量的激光干涉仪，干涉仪设计成了双干涉光路系统，以消除光栅尺安装引入的阿贝误差，这台测量仪采用干涉条纹计量原理，对光栅尺和线纹尺的线值精度进行检测，并能对光机信号的质量进行评价。测量过程中，对空气折射率实现了实时修正。     

TP200──探测中的新概念

ＴＰ２００──探测中的新概念使用固态技术的新型ＲｅｉｎｓｈａｗＴＰ２００测头在精度、工作寿命及柔性方面取得了显著的进步。该测头系统的设计消除了由振动引起的测量误差。该振动是在触针弯向触发器之前（称为预行程振动）或“扫掠”中产生的．采用测量传感器与运动...     

新型紧凑型触发式测头为多种加工中心提供高精度测量

<正>Renishaw RMP600是一种紧凑型高精度触发式测头,采用无线电信号传输,不仅具有自动工件找正测头的所有优点,还能够在各种加工中心上测量复杂的三维工件几何特征。RMP600触发式测头结构坚固,采用半     

纳米计量与分子坐标测量机系统设计（2）

NanmetrologyandMolecularMeasuringMachineSystemDesign（2）WangJia4分子测量机计量系统STM和AFM均不是计量型仪器，而是作为位置传感器。分子坐标测量机必须采用能够溯源的超高分辨率激光外差干涉仪作为测量参考基准，并测量探针和样品之间的相对运动。激光外差可采用塞曼频率分裂，多模激光器或声光电光调制原理。干涉仪采用了光学8倍频。用相位计从时间间隔分析器中计算相位，其时间分辨率为200pa，电子细分技术实现1000细分。干涉仪的分辨率为0．075um。获得高精度的主要障碍是激光器和干涉仪光学元件中偏振态混合效应和非线性…     

未知曲面数控信形测量实验方法

从曲面数控仿形测量的要求出发，介绍了激光测头曲民形测量的实现方法。提出了基于测量区域预测，曲面近似数学模型建立的方法，结合测点预测、误差补补偿等技术，在“华中Ｉ型高性能数控系统”上成功地实现了点光源激光非接触测头的Ｚ浮准等弧长仿形测量。     

未知曲面数控仿形测量实现方法

从曲面数控仿形测量的要求出发，介绍了激光测头曲面仿形测量的实现方法。提出了基于测量区域预测，曲面近似数学模型建立的方法，结合测点预测、误差补偿等技术，在“华中Ⅰ型高性能数控系统”上成功地实现了点光源激光非接触测头的Ｚ浮准等弧长仿形测量     

汽车车身曲面激光自动测量技术研究

针对追求整体协调要求的车身曲面宏观形状测量问题，开发了相应的以激光技术，传感技术、伺服控制技术以及工程应用光学等为基础的自动测量，文章对自动测量的原理、测头随动准则，测头扫描规则以及测点坐标数据采集、传输和处理等内容，均作了较为详细的探讨。     

波形记录仪触发延迟线性的实验研究

提出了使用正弦波激励评价触发延迟线性度和触发抖动的新方法，通过一个波形在有触发延迟和无触发延迟时，采集序列间的相位差对应的时间差来最终判定触发延迟结果。用该方法实现的触发延迟线性度测量方法，将触发延迟直接溯源到激励信号的频率量上，无需额外的精密延时器等装置，减少了测量环节，并且可以实现任意延迟的精确测量。以不同频率、不同触发延迟、不同采集速率下的实验结果的对比给出了触发延迟线性校准的结论性意见，同时验证了所述方法的有效性和切实可行性。     

叶片型面非接触测量系统设计与实现

针对航空叶片形状复杂、技术要求高、自动检测难度大等特点,本文基于锥光偏振测头和四轴运动平台搭建了非接触式光学测量系统.通过系统标定实现了数据统一,采用激光偏振全息测头采样技术与多轴联动定位技术相结合的测量方法,实现了航空发动机叶片型面的快速测量,通过对标准棒、模拟叶片的实际测量,验证了该四轴激光测量系统可实现对叶片型面的非接触、高精度测量.     

满足一等量块检定要求的接触式激光量块干涉仪

最新研制的接触式激光量块干涉仪主要用于测量一、二等量块的中心长度，其长度测量不确定度达到（0.02 0.2L)μm。文中介绍了其工作原理、测量不确定度分析，给出了量块测量的验证数据。     

光学坐标测量机在叶片型线测量中的应用

为了高效精确地完成叶片不同截面上型线的测量,应用激光三角法测头、测头座以及三坐标测量机框架等搭建了非接触式的光学坐标测量机,可以实现叶片型线的快速扫描测量。在测量过程中,将激光测头通过PH10M测头座安装在三坐标测量机的Z轴上,并通过测头外参数标定技术与坐标系转化技术等将激光测头的一维距离值转化为被测点的三维坐标值,进而实现被测叶片型线三维点云的创建。最后,应用所搭建的光学坐标测量机对金属球的直径和叶片的截面型线进行扫描测量实验,能够满足使用需求。     

三坐标测量机测头系统的检定

以触发开关式电子测头系统为例，叙述三坐标测量机测头系统的检定项目与方法。