一种星载信息系统微系统电路设计

基于星载信息系统高集成化、轻小型化和智能化的发展需求,微系统电路通过SOC/SIP等先进集成电路设计技术将CPU、 FPGA及相关功能的裸芯片高密度集成。相比传统卫星研制方式,微系统电路的体积、重量、功耗显著减小,且产品研制周期由于模块化、通用化设计得以缩减。文章介绍一种基于RISC-V指令集处理器的星载信息系统微系统电路设计方案,采用基于RISC-V指令集的双核处理器作为微系统控制核心;通过架构优化设计集成RISC-V处理器核、 FPGA、存储芯片、接口电路等;考虑空间环境的影响,通过结构级抗辐照加固设计提升微系统电路的在轨运行可靠性。     

中国航天事业创建五十周年系列邮品

自1956年我国航天事业创建以来，如今已走过了半个世纪波澜壮阔、光辉灿烂的历程。中国航天事业的发展是坚持走自主创新道路，从无到有，已达到了相当规模和水平。     

不规则坐标点三维数据计算机彩色图形显示

提出一种自行编制计算机彩色图形绘制方法，将任意不规则坐标点三维测量数据绘制成彩色图形，形象直现地表达测量结果的三维信息．     

国际月球探测与利用大会首度在京召开

2006年7月25日～27日,由中国国家航天局与国际月球探测工作组共同主办,中国宇航学会、中国科学院空间中心、中国航天咨询中心协办的第八届国际月球探测与利用大会首次在北京召开.来自中国、美国、俄罗斯、日本、意大利、印度、巴基斯坦等18个国家的240多名航天局和空间机构的官员、专家参加了会议.中国国防科工委副主任、国家航天局局长孙来燕受中国探月工程领导小组组长、国防科工委主任张云川委托与国际月球探测工作组主席Narendra Bhandari分别为大会致开幕辞,孙来燕局长还做了大会主旨发言,美国航宇局、日本航空宇宙开发机构、意大利航天局以及印度空间研究组织等相关负责人也分别发表讲话.中国宇航学会副理事长兼秘书长杨俊华也出席了大会开幕式.     

大气腐蚀电化学测定研究

介绍了自行研制的环境试验中大气腐蚀电化学测定装置,包括Kelvin 大气腐蚀测定仪的工作原理,功能用途,软硬件结构及初步测试结果.自行研制的Kelvin大气腐蚀测定仪采用振动电容法技术,不需与被测量试样及电解液相接触,用Kelvin探针作参比电极,即可测得液膜下金属电极电位及极化曲线,为研究大气环境下的材料腐蚀行为提供了先进的技术和方法.     

临时航线运行效果评估研究

依托2012—2015年福建空管分局进近情况及福州长乐国际机场航班延误情况，由专家及一线管制员为各因素不同延误等级所占比重进行打分，建立延误等级模型，再通过打分情况建立物元评估模型，得出关联隶属度评估机场综合延误程度，以及使用临时航线前后延误程度的变化，最后，得到了福州长乐机场延误影响因素及综合延误程度的定性定量分析结果。     

试论预应力锚固技术在我国水利水电工程中的应用与发展

预应力锚固技术是一项潜力很大的工程措施，它效益显著，适应面广，既可对原有建筑物进行加固、补强，又可在新建工程中显示其独特的功能，而且由于须应力锚固具有传递拉应力的特殊优点，在国内外受到各部门的重视，取得了显著的成效。本文主要阐述了须应力锚固技术在我国水利水电工程中的应用和发展前景，并提出了预锚技术发展中值得研究及应注意的若干问题。     

激光自动跟踪空间坐标测量系统的发展（二）

DevelopmentofLaserAutomaticTracingSpaceCoordinateMeasurementSystem(2)WangJia;LuGang（上接1997年17卷第3期第39页）3多站激光跟踪测量系统3．1多边注的四站三自由度测量系统3.1.1四站三自由度测量系统1991年，日本O．Nakamura建立了采用多边法的四站三自由度测量系统。所谓多边法（multi-lateration）是用多台激光干涉仪共同跟踪一个反射器，计算坐标时只利用测量得到的长度改变量信息，而不用角度信息。对比前边的球坐标测量法，它有如下优点：（1）由于利用方向角的测量值来计算三自由度坐标。因此，球坐标测量法的测量精度随…     

线性调频半导体激光定位的研究

提出了一种新的半导体激光定位技术，介绍了它的定位原理、装置和实验结果．它利用半导体激光器的线性调频特性来实现干涉零点的动态定位，突破了传统白光定位的局限，简化了干涉仪设计，并实现了大范围内的零点捕捉，是一种实用的干涉定位技术．     

纳米计量学与纳米计量测试技术（一）

从纳米计量与测试的总体概念出发，参考Ｔｅｇｕｅ等人的文章，综合国内外在这个领域的研究情况，并引用我们的科研成果，对纳米计量学与纳米计量测试技术发展现状及前景进行了讨论，讨论的问题包括：如何实现纳米尺度计量；建立纳米参考坐标系；产生纳米精度重复运动；纳米精度传感器与纳米会标参考系建立联系；各种纳米精度测量技术的不确定性限制等。