用光纤半圆阵列测量准二维工件表面粗糙度参数的仿真研究

提出了一种反散射计算的简单、快速方法,用于用光纤半圆阵列的光散射技术测量准二维工件表面的粗糙度参数。这些参数包括高度特性参数 R_a、间距特性参数λ_a 和混合参数△_a。我们的研究证明了上述测量方法的正确性。因而,这种测量方法可用于测量工件表面粗糙度参数仪器的设计。     

测量表面粗糙度参数的反散射计算研究

用光的角散射分布技术测量工件表面的粗糙度参数是近几年来发展起来的新的测量技术。它具有分辨力高、非接触、区域平均和快速测量等优点,可获得多个表面粗糙度参数。采用该技术测量的实验装置角分辨力为0.1°,测量范围为0.6328μm<λ_s(空间平均波长)<40μm,0.0001<△_a(轮廓的算术平均斜率)<0.0088,2nm相似文献   

用准单色光散射法测量中等以上精度表面粗糙度

提出一种通过对远场散射光分布的统计分析来测量中等以上精度表面粗糙度的新方法。采用半导体激光器作为光源,并使用一维 CCD 器件来探测散射光分布。实验结果表明,在 R_a≤2.2μm 的范围内,远场归一化散射光分布的标准偏差(σ)与标准粗糙度参数 R_a 之间有很好的相关关系。     

表面粗糙度评定用的数字滤波器最优模型

数字摅波技术的应用,极大地增强了微机化轮廓仪的功能,提高了仪器的测量精度。除功能和精度以外,滤波数据的处理效率也是仪器的一个重要性能指际。本文根据数字信号处理的理论和 ISO 粗糙度标准,建立了从表面形貌中获取粗糙度轮廓的相位校正滤波器数字模型,并讨论了提高其计算效率的一般方法。本文最后给出了满足表面粗糙度评定用的滤波器最优模型。     

轮廓仪微机系统

本文叙述了一种可以与触针式轮廓仪配用的微机系统,利用该系统可以测量R_a、R_q、R_y、R_z、R_m、R_p、S、S_m、tp%等表面粗糙度参数,测量精度不低于原轮廓仪的精度。     

三维表面粗糙度的均方根波长评定

基于分形几何理论,通过分析随机粗糙表面的轮廓谱矩和表面谱矩的特性,提出了具有均一性和随机性的三维表面的均方根波长评定方法,并给出了理论推导及计算公式.还通过仿真模拟和对平面磨削试件的实测,验证了该方法的正确性.结论表明,对于不满足均一和随机性的表面,一般其加工纹理比较明显,可直接在垂直于加工纹理的方向上进行测量和评定,以此来表示三维表面的均方根波长.     

测量接收机与矢网测量衰减方法研究

介绍测量接收机与矢量网络分析仪测量衰减的原理,并对不确定度来源进行了分析。分别对低反射系数下,不同衰减量进行不确定度评定,表明衰减量在(10～60) d B范围内,两种标准测量不确定度相当;另外,采用两种测量标准对较大输入反射系数模值、不同相位下的阻抗调配器级联20dB固定衰减器作为被测件进行测试,最大偏差达到±0. 31dB,矢量网络分析仪的测量不确定度(0. 18dB),明显小于接收机测量不确定度(0. 59dB)。     

压降检漏法的影响因素及改进措施

介绍了压降检漏法的基本原理、漏率的误差分析,分析了常用压降检漏存在的问题。通过增加保压时间,选择高分辨率和高精度的测温计和压力计,可提高测试灵敏度。当被检件中的气体温度低于露点温度时,水蒸汽压影响测试精度。采用直接称重法确定被检件的有效容积,可减少测试误差,通过多次测量平均漏率可降低测试数据的偏差。     

新型光触针式表面粗糙度测量系统

介绍一种基于光驱聚焦检测技术的光触针式表面粗糙度测量系统。测量光束聚焦在被测表面上,当表面高度变化时,音圈电机驱动聚焦物镜移动,使光点始终聚焦在被测表面上,音圈电机的移动量就反映了表面高度的变化。该系统的垂直分辨力可达０．０１μｍ,不仅适用于表面粗糙度测量,还可用于１ｍｍ范围内的相对长度测量。     

iGPS测量不确定度空间分布分析方法

针对iGPS实际测量现场的快速评估与布局优化问题,研究了iGPS测量不确定度空间分布规律.给出了iGPS测量模型,据此建立了iGPS测量不确定度通用两站分析模型,进一步提出了基于两站模型变换的测量不确定度空间分布分析方法,并根据发射器覆盖范围进行了修正.该方法适用于发射器为任意数目与空间布局的iGPS测量环境,可用于计算iGPS测量环境中任一空间点的测量不确定度.构建了iGPS两站与四站实际测量环境,并进行了数值仿真计算与实际测量偏差对比.结果表明,两者数据吻合良好,该iGPS测量不确定度空间分布分析方法能有效描述iGPS测量不确定度空间分布规律.      

测量接收机与矢网测量衰减方法研究

介绍测量接收机与矢量网络分析仪测量衰减的原理，并对不确定度来源进行了分析。分别对低反射系数下，不同衰减量进行不确定度评定，表明衰减量在（10～60）dB范围内，两种标准测量不确定度相当；另外，采用两种测量标准对较大输入反射系数模值、不同相位下的阻抗调配器级联20dB固定衰减器作为被测件进行测试，最大偏差达到±0.31dB，矢量网络分析仪的测量不确定度（0.18dB），明显小于接收机测量不确定度（0.59dB）。     

用机器显示系统测量表面粗糙度

开发一种在生产条件下测量表面粗糙度的新方法。该方法利用基于微机的显示系统分析表面散射光的图形,导出粗糙度参数。已得到被研磨成各种粗糙度的工具钢样品的粗糙度参数。通过绘制粗糙度参数与用触针仪器获得的相应平均表面粗糙度读数的图形确定相关曲线。     

电轴法在超精密电容式传感器中的应用

在电场理论中电轴法的基础上 ,导出了局部场域的电容计算式 ,为电容传感器在精密测量中的应用提供了理论依据 ,这为经典的电轴法开辟了新的应用领域并给出了几种粗糙度等级的被测表面的近似值与精确计算结果的对比。     

直线度误差测定中几个问题的探讨

讨论了在直线度误差测量中应注意遵循的几个原则：测量值直接作用原则、测量线与工作线一致原则和两测头联线垂直被测风面原则；建议以最小包容区域计算机精确算法作为今后评定直线度误差的主要方法；提出了一种新的最小包容区域计算机精确算法—“构造封闭凸多边形法”；在采样点测量值直接作用和非直接作用两种情况下，根据其采样点偏差值的分布，给出了相应的直线度误差的测量下确定度评定公式。     

红外成像仪用于传热实验的研究

探讨了将红外成像仪用于传热实验的可能性,分析了几种影响因素:如被测实验件的材料、表面粗糙度,以及用于内流传热实验时需使用的能透过红外线的特殊材料的透射率等对实验结果的影响.分析认为,红外成像仪用于温度测量分析是一种先进的非接触温度测量技术,但必须针对具体情况,确定各个影响参数.      

测量超光滑表面粗糙度参数的反散射计算研究

介绍一种高分辨力、无接触式测量超光滑表面粗糙度参数的反散射计算测量技术。实现该技术的测量装置的角分辨力为0.1°。它可以测量导体或非导体表面纳米级精确度的粗糙度。     

TALYSURF-5轮廓仪部分故障分析

TALYSURF-5是英国Rank Taylof Hobson公司七十年代的产品,它可用来测量R_a、R_y、R_z、s、s_m、tp等参数,与附件配用,能自动显示测量结果和同步记录。目前,它是一种较先进的轮廓仪,尤其是推广实施《表面粗糙     

一种高声强校准装置的高声强级测量不确定度评定方法

介绍了一种高声强级发生及测量方法、数学模型及其测量不确定度的评定方法,并给出了不确定度评定实例及验证结果。     

基于多光谱测温优化的材料光谱发射率测量

针对高温材料红外光谱发射率测量中样品表面温度难以准确测量的问题,提出了直接使用光谱仪测量得出样品表面的光谱辐射能量信息,选取其中合适的光谱波段利用多光谱测温方法得到样品表面温度,进而计算出材料的光谱发射率.分析了多光谱测温中发射率模型的阶次和测量波段选取对测温准确度的影响,给出了温度计算的稳健算法,并对其主要不确定度的来源进行了评定.在1 100 K左右温度下以不锈钢材料进行实验验证,得出温度引起的光谱发射率相对不确定度在2～20 μm范围内低于2%,满足红外隐身和辐射测温等领域的要求,适合于导热性能差的材料或涂层材料的高温光谱发射率测量.     

触针式仪器评定制件表面粗糙度的规则与方法

综合和细化了表面粗糙度相关标准中有关评定规则的内容,结合作者多年来的工作体会进行了论述,并附有评定实例。