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红外热成像技术在功能涂层缺陷研究中的应用
引用本文:
刘鹏瑞,肖圣荣,张桐,王智勇.红外热成像技术在功能涂层缺陷研究中的应用[J].航空维修与工程,2014(4):49-51.
作者姓名:
刘鹏瑞
肖圣荣
张桐
王智勇
作者单位:
北京航空材料研究院
摘 要:
介绍了一种基于红外热成像技术的无损检测方法,用于检测涂层的内部缺陷。该方法是以高能闪光灯作为热激励装置,并通过红外热像仪记录样品的热扩散和冷却过程。使用这种方法成功地检测了两组带有人工缺陷的功能涂层样品。实验结果表明,在红外热图像上能够明显地识别出涂层内部缺陷的位置和尺寸。
关 键 词:
红外热像
涂层缺陷
吸波涂层
高反射率涂层
Application of Infrared Thermography in the Research of Functional Coating Defects
Abstract:
infrared thermography
coating defects
absorbing coating
high reflectivity
Keywords:
infrared thermography
coating defects
absorbing coating
high reflectivity
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