红外热成像技术在功能涂层缺陷研究中的应用

介绍了一种基于红外热成像技术的无损检测方法,用于检测涂层的内部缺陷。该方法是以高能闪光灯作为热激励装置,并通过红外热像仪记录样品的热扩散和冷却过程。使用这种方法成功地检测了两组带有人工缺陷的功能涂层样品。实验结果表明,在红外热图像上能够明显地识别出涂层内部缺陷的位置和尺寸。     

1种低红外发射率涂层耐热性能研究

为有效降低飞行器高温部位表面的红外发射率,以改性有机硅为黏结剂体系、金属铝粉为主要填料,制备了在8~14μm波段具有较低红外发射率的涂层。在50~400℃温度范围内考察了涂层的耐热性能,并采用扫描电镜、TGA等手段对其进行表征,研究了涂层的红外发射率、光泽度和力学性能随温度的变化规律及影响机理。结果表明:制备的涂层在300℃以下具有良好的力学性能,可长期使用,在8~14μm波段的红外发射率与温度成反比,光泽度与温度成正比;当环境温度高于300℃,涂层开始发生热降解现象,光泽度降低,涂层的力学性能降低。