| 单粒子锁定极端敏感器件的试验及对我国航天安全的警示 |
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| 引用本文： | 韩建伟,张振龙,封国强,等.单粒子锁定极端敏感器件的试验及对我国航天安全的警示[J].航天器环境工程,2008,25(3):263-268. |
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| 作者姓名： | 韩建伟 张振龙 封国强 等 |
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| 作者单位： | 1. 中国科学院空间科学与应用研究中心,北京,100190
2. 中国科学院空间科学与应用研究中心,北京,100190;中国科学院研究生院,北京,100039 |
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| 摘 要： | 随着半导体特征工艺尺寸减小、集成度提高,静态存储器(SRAM)对单粒子锁定呈现出极其敏感的现象和趋势,为此国际航天界开展了大量的试验评估工作,剔除和杜绝了一些极端敏感器件在空间的应用.结合国内外空间应用背景,文章利用脉冲激光实验装置和重离子加速器,分别对三星公司新旧两种型号的4 M位SRAM芯片进行了单粒子锁定试验评估.试验测得两型号芯片的单粒子锁定阈值差异巨大,新型号芯片的锁定阈值低于1.5MeV·cm2/mg,而老型号芯片的锁定阈值高于39.6MeV·cm2/mg.这种对单粒子锁定极端敏感的芯片若应用于空间,将会发生0.008～0.04次/天的频繁锁定事件,极大地威胁航天器的安全和可靠.为应对这种单粒子锁定极端敏感的现象和趋势,提出了加强我国航天产品设计、元器件采购、筛选、试验等的规范、技术和条件的建议.
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| 关 键 词： | 单粒子锁定 锁定阈值 静态存储器 航天器 |
| 文章编号： | 1673-1379(2008)03-0263-06 |
| 收稿时间： | 2/2/2008 12:00:00 AM |
| 修稿时间： | 2008年2月2日 |
The radiation test of SRAM devices for extreme single event latch-up susceptibility and a warning to our aerospace safety |
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| Han Jianwei,Zhang Zhenlong,Feng Guoqiang and et al.The radiation test of SRAM devices for extreme single event latch-up susceptibility and a warning to our aerospace safety[J].Spacecraft Environment Engineering,2008,25(3):263-268. |
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| Authors: | Han Jianwei Zhang Zhenlong Feng Guoqiang and |
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| Institution: | Center for Space Science and Applied Research, Chinese Academy of Sciencer |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | single event latch-up latch-up LET threshold SRAM spacecraft |
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