| 嵌入式SRAM的一种高可靠性内建冗余分析策略研究 |
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| 引用本文： | 苏建华,陈则王,王友仁,姚睿.嵌入式SRAM的一种高可靠性内建冗余分析策略研究[J].宇航学报,2010,31(11):2597-2603. |
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| 作者姓名： | 苏建华 陈则王 王友仁 姚睿 |
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| 作者单位： | 1. 南京航空航天大学自动化学院，南京 210016； 2. 中国电子科技集团，中原电子技术研究所，郑州 450005 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金(90505013,60871009); 南京航空航天大学专项科研基金(NS2010082) |
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| 摘 要： | 为有效提高嵌入式静态随机访问存储器（Static Random Access Memory, SRAM）的可靠性，进而确保整个航天电子系统的可靠运行，通过对嵌入式SRAM故障分布特点的分析，给出了一种改进的存储器架构。采用列块修复与行单元修复相配合的方法，并在此基础上提出了二维冗余模块存在故障的内建冗余分析( Built\|In Redundancy Analysis, BIRA)策略。该策略高效运用了设置的行修复寄存器与列修复寄存器，极大地提高了故障的修复率。通过64×8位的SRAM仿真实验验证了提出的内建冗余分析策略的可行性，有效确保了系统在冗余模块和主存储器都存在故障的情况下的高可靠运行。
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| 关 键 词： | 嵌入式SRAM 可靠性 存储器架构 内建冗余分析 故障修复率 |
Higher Reliability Built-In Redundancy Analysis Strategy for Embedded SRAM |
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| SU Jian-hua,CHEN Ze-wang,WANG You-ren,Yao Rui.Higher Reliability Built-In Redundancy Analysis Strategy for Embedded SRAM[J].Journal of Astronautics,2010,31(11):2597-2603. |
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| Authors: | SU Jian-hua CHEN Ze-wang WANG You-ren Yao Rui |
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| Institution: | SU Jian-hua1,2,CHEN Ze-wang1,WANG You-ren1,Yao Rui1(1.College of Automation and Engineering,Nanjing University of Aeronautics and Astronautics,Nanjing 210016,China,2.Zhongyuan Institute of Electronic Technology,China Electronics Technology Group,Zhengzhou 450005,China) |
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| Abstract: | In order to effectively improve the reliability of embedded SRAM,thus ensuring the reliable operation of entire aerospace electronic systems,through analysis of the characteristics of the distribution of faults of embedded SRAM,a method of column block repair and row unit repair is used on the basis of the improved memory architecture,and a built-in redundancy analysis(BIRA) strategy with faults in a 2-D redundancy module is proposed.This strategy uses the row repair register and column repair register effe... |
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| Keywords: | Embedded SRAM Reliability Memory architecture Built-in redundancy analysis Repair rate |
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