绘制工作曲线是光谱分析的关键步骤

通常绘制光谱分析工作曲线的基本方法,应是使各坐标点距工作曲线的距离最小,但在实际工作中,行为表现往往由于存在某些元素谱线的自吸、对电极中含有的待测杂质、强度较弱的干扰谱线、连续背景、同一合金不同牌号组成的标样之较大的离散度、粉末标样基物的不纯以及谱线黑度未位于正常曝光部分等诸多影响因素,而使工作曲线形态发生变化。此种情况且忌把各标样点硬性连成直线,而只能是根据各种产生问题的原因,采取相应的办法消除影响,以使分析结果趋向真值。