首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   727篇
  免费   119篇
  国内免费   154篇
航空   567篇
航天技术   149篇
综合类   111篇
航天   173篇
  2024年   8篇
  2023年   30篇
  2022年   29篇
  2021年   38篇
  2020年   31篇
  2019年   34篇
  2018年   27篇
  2017年   30篇
  2016年   36篇
  2015年   41篇
  2014年   40篇
  2013年   33篇
  2012年   42篇
  2011年   56篇
  2010年   46篇
  2009年   49篇
  2008年   49篇
  2007年   39篇
  2006年   37篇
  2005年   20篇
  2004年   31篇
  2003年   20篇
  2002年   31篇
  2001年   26篇
  2000年   15篇
  1999年   12篇
  1998年   14篇
  1997年   14篇
  1996年   22篇
  1995年   10篇
  1994年   19篇
  1993年   21篇
  1992年   23篇
  1991年   14篇
  1990年   5篇
  1989年   4篇
  1987年   1篇
  1986年   3篇
排序方式: 共有1000条查询结果,搜索用时 15 毫秒
1.
随着系统任务需求的日渐密集,用户对系统的时间特性提出了更为严苛的要求。首先,利用图示评审技术(GERT)构建系统任务流程的随机网络模型,针对任务中由于资源共享引起的活动排队执行以及部分上下游活动之间存在重叠的情况,基于排队论并引入时间因子以修正任务中各活动的执行时间,并给出任务执行时间的求解步骤。经考虑这2种情况,最终任务平均执行时间增加了22.9%。其次,通过不确定性分析,找出了任务中的关键活动,为进一步任务优化提供方向和思路。最后,以舰载机着舰任务为例进行案例应用分析,验证所提建模分析方法的有效性和适用性。   相似文献   
2.
一种可伸缩空间机械臂及其应用分析   总被引:1,自引:0,他引:1  
介绍一种能够完成多关节型空间机械臂所能承担的大部分空间任务 ,而且应用更简便的可伸缩空间机械臂 ,对其空间应用做出了一些设想 ,简单讨论了其应用的一些相关问题 ,肯定了其可行性和实用性。  相似文献   
3.
互耦影响下天线电参数的测量   总被引:1,自引:1,他引:0  
针对天线测量中的互耦影响,提出了一种计量方法;推导出一组用于互耦影响下测量天线增益、雷达散射截面等电参数的计算公式,定义了互耦因子。  相似文献   
4.
介绍了用美国MTS公司的平面应变断裂韬度测试软件,对TC4合金进行KIC测试的过程及结果。  相似文献   
5.
获得电子设备环境因子的工程方法   总被引:1,自引:0,他引:1  
  相似文献   
6.
7.
介绍了用混合Gamma分布和混合Beta分布作共轭验前分布时,如何由Bayes方法对电子产品的可靠性进行评估。其中继承因子的引入克服了传统Bayes方法只考虑产品的继承性、相似性,而忽略新产品的创新性、不确定性的缺点。同时,通过举例与常用的经典法作比较,看出了这种方法的优越性及合理性。  相似文献   
8.
D- R定位算法在理论上可以用于定位。在实际工作中 ,用户的定位精度是进行定位时首先需要考虑的问题。文中主要讨论 D- R算法本身固有的定位误差。首先根据 D- R算法的定位公式推导出算法的精度误差因子。然后根据卫星定位导航系统的工作过程 ,确定了影响用户定位精度误差因子的因素并对这些因素对精度误差因子的影响进行了计算机仿真。仿真结果证明 D- R定位算法在一定条件下可以满足用户对定位精度的要求 ,用户精度误差因子可与现有的 GPS系统相当。  相似文献   
9.
本文在现有的平板缝阵天线阵面设计的理论基础上,通过公式推导和算法处理获得了非常简洁的求解方程,并在所设计的谐振阵的基础上通过引进一个调节因子α来得到了求解等缝长的方程,从而实现了等缝长的设计。  相似文献   
10.
在引入了一套磨粒形态学描述子来提取磨损颗粒的显微形态特征的基础上 ,采用人工神经网络技术 ,编制了用于磨损颗粒自动识别的 BP网络计算机模拟程序。在网络训练的过程中应用了本文引入的因子模糊化训练方法 ,使训练速度大大加快 ,以异或问题为例 ,速度可提高 5~ 1 0倍。应用此网络对磨粒测试库进行识别实验 ,识别正确率在 90 %以上 ,并且识别速度很快 ,大大优于传统的磨粒识别方法。  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号