航天器表面电荷激发空间静电场规律研究

从带电表面微元出发，通过求解泊松方程，得到带电介质平板表面邻近空间静电势的解析表达式，建立介质表面电位-介电常数模型，求得了带电介质平板表面电位、表面带电量和介质介电常数三者之间的关系式。结合典型的航天器表面介质材料带电案例，对此类圆盘结构介质平板带电问题进行了仿真分析，结果表明，在介质材料表面电位一定的情况下，表面电荷激发的空间静电势值随距离的增大而减小，并且距离介质表面越近，电势的空间变化率越大；在介质材料带电量相等的情况下，介质表面电位随着介质介电常数的增大而减小，并逐渐趋于一个稳定值，所以在一定范围内选择介电常数较大的介质材料可以降低介质的表面电位，减小介质间发生静电放电的几率。     

微波印刷板电路基片复介电常数测量研究CSCD

本文研究传输线法测量微波印刷板电路基片的复介电常数。该方法以矢量网络分析仪作为测量仪器,使用与同轴测量端口相匹配的带状线传输线作为待测结构。带状线的复介电常数信息反映在其特征阻抗和复传播常数中,特征阻抗和复传播常数可由其ABCD矩阵得到。由矢量网络分析仪测量得到的二端口散射矩阵(即S参数矩阵)可直接转换为ABCD矩阵,由此求出介质基片的复介电常数。为得到带状线正确的S参数,需要对测量系统进行校准。本文采用由TRL校准原理衍生而来的校准方法做校准。     

非磁性材料介电常数测量传输反射法改进研究CSCD

在传统NRW传输反射法的基础上,针对非磁性材料的介电常数测试,提出了一种改进算法。该方法分别从反射系数与传输系数入手,得到两种求解表达式,结合两种表达式的优缺点,克服了NRW算法中的厚度谐振与多值解问题,准确求解出材料的复介电常数,此外,针对测试中由于样品移动引起的位置模糊性问题,介绍了一种通过计算求解确定样品位置的方法。最后根据提出的方法编制了测试软件,并对常用微波介质材料进行了测试,完成了对比验证。     

X波段低损耗材料复介电常数自动测量系统

介绍了用圆柱谐振腔测量低损耗介质材料复介电常数的自动测量系统。该系统可根据加载介质前后圆柱谐振腔的谐振频率和品质因数，计算出被测材料的相对介电常数ε′τ和损耗角正切tanδ。系统设计时，采用对固定尺寸的圆柱谐振腔进行扫频测量的方法，提高了测量精度；采用反相馈电和在腔壁开槽的方法来抑制干扰模式。用此系统对几种低损耗材料进行测量，结果令人满意。     

基于矢量网络分析仪的相对介电常数扫频测量

采用波导短路法对介质材料的相对介电常数进行扫频自动测量,通过VC＋＋开发了一套宽频带（8GHz~18GHz）复介电常数自动测量系统。用矢量网络分析仪对波导采样器进行扫频测量,不仅可以得到被测材料介电常数的频率特性,而且能够解决超越方程多值解的判断问题,并减少了测量中的误差。通过对介质样品的实际测量,可以发现,该自动测量系统操作简单、测量速度快,测量结果能够达到较高准确度,结果令人满意。     

用3mm准光腔测试介质片复介电常数

为了准确检测介质片在3 mm频段的复介电特性,采用固定腔长法,研制了工作在101.80 GHz的测试介质片复介电常数准光学谐振腔测试系统。结果表明:腔体的品质因数达8×104,高斯波束的束腰半径为2.36 mm。复介电常数的测试范围ε′为2~8;tanδ为3×10-4~5×10-3,最可几误差为│Δε′/ε′│小于等于10%;│Δtanδ│小于等于20%tanδ+1×10-4。此方法能检测大面积介质片复介电常数的均匀性。     

介质材料介电常数均匀性测试评价系统

介绍了针对介质材料的介电常数的均匀性测试方法,基于谐振微扰法和场分析理论,建立了圆柱腔内样品分段测试模型。利用工作在TM_(0n0)的圆柱腔进行方法可行性验证后,设计了一套由矢量网络分析仪、计算机、圆柱腔、移动装置等组成的介电常数均匀性测试系统,并利用自动化测试软件,旨在实现对介质材料介电常数的在线自动化均匀性测试。通过对三种典型介质材料进行均匀性测试分析,与材料制造商比对的测试差别分别小于0.02、0.04和0.15,证明了该均匀性能测试评价系统的可行性和有效性。