| X波段低损耗材料复介电常数自动测量系统 |
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| 引用本文： | 李巍%韦高%杨金孝.X波段低损耗材料复介电常数自动测量系统[J].宇航材料工艺,2006,36(6):61-64. |
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| 作者姓名： | 李巍%韦高%杨金孝 |
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| 作者单位： | 1. 西北工业大学电子信息学院,西安,710072;山东航天电子技术研究所,烟台,264001
2. 西北工业大学电子信息学院,西安,710072 |
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| 摘 要： | 介绍了用圆柱谐振腔测量低损耗介质材料复介电常数的自动测量系统。该系统可根据加载介质前后圆柱谐振腔的谐振频率和品质因数，计算出被测材料的相对介电常数ε′τ和损耗角正切tanδ。系统设计时，采用对固定尺寸的圆柱谐振腔进行扫频测量的方法，提高了测量精度；采用反相馈电和在腔壁开槽的方法来抑制干扰模式。用此系统对几种低损耗材料进行测量，结果令人满意。
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| 关 键 词： | 圆柱谐振腔 介电常数 损耗角正切 品质因数 |
| 收稿时间： | 2006-01-17 |
| 修稿时间： | 2006-01-172006-03-16 |
An Automatic System for Complex Permittivity Measurement of Low-Loss Materials at X Band |
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| Li Wei,Wei Gao,Yang Jinxiao.An Automatic System for Complex Permittivity Measurement of Low-Loss Materials at X Band[J].Aerospace Materials & Technology,2006,36(6):61-64. |
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| Authors: | Li Wei Wei Gao Yang Jinxiao |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Cylindrical cavity Permittivity Loss angle tangent Quality factor |
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