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1.
某型电子产品整机电老炼故障数据分析   总被引:2,自引:0,他引:2  
本文对某型电子产品在不同温度下的电老炼的分组故障数据进行了分析。  相似文献   
2.
3.
双参数指数分布的单样预测问题   总被引:2,自引:0,他引:2  
对双参数指数分布,本文给出了单样预测问题的预测子及预测区间,指出它们对寿命试验问题的应用,并用数值例说明了这些方法。  相似文献   
4.
如何合理地评价纠正后的故障数据   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文根据两个工程实例,对文「1」提出的故障采取纠正后产品的可靠性评定方法提出商榷,指出故障纠正后不能进行所谓“重新分类”,(即将采取纠正措施后的故障划为非关联故障),而应进行细致的趋势检验后,按增长模型或指数分布评价。  相似文献   
5.
双参数指数分布的双样预测   总被引:2,自引:0,他引:2  
对双参数指数分布,给出了双样问题的预测子及预测区间,并指出对串联、并联k/m(G)系统寿命下限问题的应用,并用数值例说明这些方法。  相似文献   
6.
指数分布单样预测的Bayes方法   总被引:1,自引:0,他引:1  
对指数分布的单样预测问题用Bayes方法进行了讨论,结果表明,定数截必埋,无信息先验分布的Bayes预测限与经典预测限相同,但两种方法的预测子不一致,对有替换定时截尾,给出了经典方法目前尚未处理的单样预测问题的Bayes预测子与预测限,并用数值例说明了这些方法。  相似文献   
7.
对Weibull分布与极值分布的单样预测问题进行了讨论,给出了单样预测的无偏预测子与近似的预测限,并用数值例说明这些方法。  相似文献   
8.
可靠性增长幂律模型的Bayes推断及在发动机上的应用   总被引:11,自引:2,他引:9       下载免费PDF全文
对作同步故障截尾与时间截尾的K个独立相同的幂律过程,即可靠性增长幂律模型,在无信息先验分布下给出了过程参数、当前的系统MTBF(平均故障间隔时间)与故障强度的Bayes点估计与区间估计,并将之与经典方法进行了比较,可避免非随机化最优置信下限的保守性和随机化最优置信下限的随机性。最后用两台发动机的数值例说明了这些方法。  相似文献   
9.
可靠性增长突点辨识与MIL—HDBK—189   总被引:3,自引:0,他引:3  
  相似文献   
10.
(对数)正态未来观测的预测分布及其应用   总被引:1,自引:0,他引:1  
本文用Bayes方法给出了正态、对数正态分布示来观测的预测分布。据此,给出了两分布未来观测值的预测子与预测区间及两分布可靠性的Bayes估计,而经典预测区间与无信息先验分布下的Bayes预测区间相间。  相似文献   
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