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1.
防静电Kapton二次表面镜的电子辐照效应   总被引:3,自引:2,他引:1  
文章研究防静电Kapton二次表面镜(ITO/Kapton/Al)在不同能量电子辐照后,太阳吸收比退化情况,并利用X射线光电子能谱仪(XPS)和扫描电子显微镜(SEM)对样品表面的成分和形貌进行了分析。结果表明,相同电子注量下,电子能量越高,对样品的太阳吸收率退化作用越大;电子辐照对样品表面形貌影响不大,但是会降低表面氧化铟锡的含量;不同能量的电子对样品表面成分的损伤效应是一致的。  相似文献   
2.
TPH型真空炉温度均匀性测试系统的温度补偿系统在长时间使用后存在温度补偿性能下降的问题,从而无法实现精确补偿,影响炉温均匀性测试结果。同时,加热设备控温热电偶测量端位置对设备性能有重要影响。本文从以上两个方面对TPH型真空炉测试方法的改进进行了论述。  相似文献   
3.
空间原子氧环境对常用热控涂层的影响   总被引:3,自引:1,他引:2  
空间原子氧(AO)是影响低地球轨道(LEO)航天器在轨性能的主要空间环境因素之一,其强氧化性能够对热控涂层和组件造成危害。文章分析了空间AO及相关综合环境对白漆、黑漆、有色有机漆、薄膜、织物、二次表面镜等各类常用热控涂层在LEO长期使用时可能引起的环境效应和危害,提出了相关使用建议,以期为今后我国以空间站为代表的LEO长寿命航天器论证及研制提供技术参考。  相似文献   
4.
热缩套管绝缘性能辐照效应研究   总被引:3,自引:1,他引:2  
文章研究热缩套管的体电阻率和击穿电场强度在空间带电粒子辐照环境中的退化情况。分别利用γ射线和低能电子模拟低地球轨道带电粒子辐照环境,研究热缩套管辐照前后性能变化情况。试验结果表明,热缩套管的击穿电场强度在辐照后变化不明显,而体电阻率有不同程度的变化,电子辐照后热缩套管的体电阻率退化比γ射线辐照后的更为严重。  相似文献   
5.
辐照环境中ZnO类热控涂层性能   总被引:4,自引:2,他引:2  
文章研究ZnO类热控涂层在空间综合辐照环境下太阳吸收率(αs)退化的预示模型。利用ZnO类热控涂层的空间综合辐照环境试验数据,对比分析6种数学模型分别拟合出的αs退化预示结果。结果表明,选择合适的预示模型,可以大幅缩短试验时间,利用预示数据就能较准确地反映出αs的退化情况。  相似文献   
6.
针对无人机测控与信息传输系统中地面设备笨重、跟踪速度慢等问题,提出地面天线采用智能天线的方法,利用MUSIC(MUltiple SIgnal Classification,多重信号分类)算法实现对机载终端的DOA(Direction Of Ar-rival,波达方向)估计,并添加去相关操作对抗多径,利用基于LCMV(Linearly Constrained Minimum Variance,线性约束最小方差)准则的波束成形算法完成波束赋形,相较于传统的机械跟踪方式,具有设备质量小、成本低、机动性灵活性强和跟踪速度快等优势.仿真和实际测试结果表明,采用DOA估计和波束成形算法的智能天线能够在保证高增益的同时,实时准确地估计出有用信号和多径信号的来波信号方向,并正确完成波束指向,具有很高的工程应用价值.  相似文献   
7.
针对316L不锈钢粉末选区激光熔化(SLM)过程,综合考虑了材料随温度变化的热物理属性及相变潜热的影响,开发了单层多道的三维温度场计算模型,模拟了不同扫描策略下熔池形态及温度场的分布,并与试验测量结果相比较,对比分析了不同扫描路径对零件微观组织的影响。仿真结果表明,随着扫描道的增加,熔道的最高温度有小幅度升高。通过试验观察,熔池内包含有大量柱状晶,沿着最大温度梯度方向竖直生长。另外,微观组织缺陷更易出现在热量累积及应力集中的扫描岛屿间的交界处,并且,扫描策略影响零件的微观组织及显微硬度,回形扫描方式较回形岛式扫描的晶粒细小,显微硬度高。  相似文献   
8.
SR107-ZK在空间辐照下的物性变化   总被引:2,自引:1,他引:2       下载免费PDF全文
研究了SR107-ZK在紫外辐照、质子辐照和综合辐照环境下太阳吸收率αs的退化情况,利用XPS和SEM对样品表面的成分和形貌进行了分析.结果表明:SR107-ZK的αs受紫外辐照影响较小,但是在质子和综合辐照条件下,αs退化明显.紫外辐照会对SR107-ZK的硅橡胶黏合剂产生裂解作用,这种作用在带电粒子的协同辐照下更加明显.  相似文献   
9.
S781白漆在空间辐照环境下物性变化分析   总被引:4,自引:2,他引:2  
文章研究S781白漆分别在紫外、质子和紫外+质子+电子综合辐照环境下太阳吸收率(αs)的退化情况,并利用X射线光电子能谱(XPS)和扫描电子显微镜(SEM)对样品表面的成分和形貌进行了分析。结果表明:S781白漆的αs受紫外辐照影响较小,但是在质子和综合辐照条件下退化明显。紫外辐照会对S781的硅树脂粘合剂产生裂解作用,质子辐照下样品表面会有污染形成,电子辐照会对深层的硅树脂性质产生影响。  相似文献   
10.
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