星用光电器件位移损伤评估方法

位移损伤是导致星用光电器件性能衰退的重要因素之一。文章以GaAs太阳电池、CCD、光电耦合器和光敏晶体管为对象,研究了其敏感电参数随位移损伤剂量D_d的退化行为,建立了相应的退化方程。在此基础上,结合空间辐射环境仿真分析和地面辐照试验,提出了一种通用的位移损伤效应评估方法。利用该方法对拟用于某太阳同步轨道卫星上的光敏三极管的在轨退化行为进行了评估,评估结果证明了该方法的有效性和可行性。     

基于性能退化的星用产品寿命预测方法及工程化应用研究

为解决星用核心部件的寿命预测问题,对星用活动部件、蓄电池等耗损型/退化型产品的寿命预测进行了研究。提出了一种面向工程的寿命预测方法及其应用策略,通过产品寿命要求分析、产品失效机理分析、性能退化数据采集与处理、性能退化建模、寿命分布建模及寿命预测等5个步骤,用性能退化数据实现对耗损型/退化型产品的寿命评价。以氢镍蓄电池为应用对象,选定循环周次为寿命表征,放电终压为退化特征量,剔除采集数据中的野点和活化效应,建立三阶段退化模型,用威布尔分布拟合获得了可靠寿命。方法和应用策略可用于工程实践。