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介绍了分析运算放大器管腔内水汽对其电参数影响的工作。试验表明,运算放大器管腔内过量水汽对其Iib、Ios、Vos三个参数影响较大。通过其参数Iib和Ios的温度响应曲线可以测定其水汽的露点,并大致确定其管壳内的水汽含量和“危险”工作区。 相似文献
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在总结了国产二次集成电路的主要失效模式的基础上，分析了其产生的原因，并针对反映的生产和使用中的问题提出了切实可行的建议。 相似文献
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综合分析了五年来半导体器件112例军用运算放大器的失效模式及机理。指出了质量管理的重要性,反映了军用电路从生产、交检到使用所存在的问题并提出保证可靠性的四点建议。 相似文献
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