首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   1篇
  免费   0篇
航天   1篇
  2012年   1篇
排序方式: 共有1条查询结果,搜索用时 15 毫秒
1
1.
对K4169和GH4169形成的对接接头进行了电子束焊接,利用金相分析和扫描电镜对K4169铸造高温合金一侧电子束焊接热影响区微裂纹行为进行了分析。研究发现,K4169一侧电子束焊接裂纹均发生于熔合线附近的热影响区,该区域化学组分不均匀,偏析严重,低熔点共晶易在晶间聚集,轻微的形成胡须组织,较严重的表现为裂纹。通过改善散热条件和优化工艺参数有助于减小热影响区微裂纹倾向。  相似文献   
1
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号