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为了测试高能CO2激光光强分布,提出利用半导体制冷片作为靶屏,用热像仪测量屏表面温度,通过热像仪的图像回推屏上光强分布.从理论上分析了工作中的制冷片在CO2高能连续激光辐照下热面温度的时空分布,给出回推光强的重构算法. 相似文献
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