首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   1篇
  免费   0篇
综合类   1篇
  2018年   1篇
排序方式: 共有1条查询结果,搜索用时 8 毫秒
1
1.
为提高有源微波器件测试的器件无损性、测试正确性、测试稳定性、结果正确性和测试速动性,保障航天航空产品、通讯产品和武器整机系统的可靠性和稳定性,识别有源微波器件测试的干扰因素,规避其恶劣影响变得日益重要。本文根据有源微波器件的测试原理,结合有源微波器件的测试要求,找到了严重威胁有源微波器件正常测试的8项干扰因素,并针对这8项干扰因素逐一找到了可行的抗干扰对策,对有源微波器件测试具有很深的实践指导意义。  相似文献   
1
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号