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本文作者所设计的实验是利用光学中全反射衰减特性方法测量在介质上蒸镀的金属薄膜的厚度和各种频率下的复介电常数等物理性质，它可以精确测定１００～１０００范围内金属膜层的厚度和ε（ω）值，以及一些其它性质，是研究固体表面物理的一种有效的方法和技术。 相似文献
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