单光束直入射云纹干涉计量 --云纹相机和云纹显微镜

本文用傅氏光学原理分析了光栅在斜入射与直入射之间的关系，提出了直入射云纹光路及其干涉原理。此光路除了继承斜入射波前干涉原理和有相同灵敏度外，还具有结构简化、紧凑，集光源到CCD成像为一体的特点，从而设计了云纹相机（f=300-2400线／毫米）和云纹显微镜（f=12000线／毫米或灵敏度＝83.3纳米／线），实现了云纹测量仪器化，至此云纹实验勿需再采用分离元件在实验室的全息平台上进行，而可用于现场。本文最后分析了光栅恰如－精密度尺，用于变形测量，但度尺与被测物不应为同一量级，因变形高频信号将被转换为衰逝波被光栅所阻挡，根据目前各相关技术发展的详实资料及光测力学的需求，提出可行的纳米级光栅和超紫外云纹，这将是新世纪研究微观断裂力学的一个方向。