基于光学靶标的天线型面高精度摄影测量

天线型面的高精度测量是天线研发与生产过程当中的一个重要环节，特别是天线表面镀有镀膜的情况就需要用到非接触式的高精度测量方式，文章介绍了利用光学靶标投射器投射光学靶标代替传统反光标志点的非接触工业摄影测量技术，并对该技术的适用性与精度进行了一系列的对比测试，利用该测量技术得出的测量精度指标RMS与三坐标测量机所测RMS值进行比较，结果表明两者RMS值仅相差0.002 mm，同时与传统粘贴人工反光标志点测量RMS值相比较优于后者0.002 mm。以上测量结果对比验证了利用光学靶标投射器对镀膜天线型面的摄影测量的可靠性与测量精度满足高精度天线型面检测需求，实现了基于光学靶标的真正意义上的非接触高精度测量，为基于光学靶标的摄影测量在镀膜天线型面检测等方面的应用提供参考。     

像片数目对工业摄影测量精度影响研究

高精度工业摄影测量技术是现代工业制造的一种测量方法，在航空航天、机械制造、军事工业等领域得到了广泛的应用。提高工业摄影测量的精度则是该技术发展的重点之一，本文针对像片数目对工业摄影测量精度的影响做了研究，在控制如光照、反光标志材料、像中心点坐标精度等条件因素不变的情况下，采用固定网型一次性采集共计1200张像片，并等差随机分为17×3组不同像片数目组合，处理得出各组点三维坐标。以重复性作为精度评定标准，通过综合分析得出像片数目对工业摄影测量精度无实质性影响，为进一步研究如何提高摄影测量精度提供参考。