双参考镜合像干涉仪的研究

介绍一种新型干涉测量系统，该系统采用并列的两个参考镜，将产生的两组干涉条纹复合在同一视场。当测量系统产生的光程改变时，两组干涉条纹相对关系按一定规律变化，借助光电转换和图像分析技术，可用于长度和微小角度测量。介绍了可行性实验和测取的数据及分析所得出的结论。