基于半导体制冷器的微型黑体温控系统

微型面源黑体作为红外载荷的定标用辐射源，其温度稳定性、均匀性直接影响着定标的结果。本文基于半导体制冷器，采用专用控制芯片LTC1923设计了微型面源黑体温度控制系统。在常温常压条件下，测试了微型面源黑体的温度特性。试验结果表明，微型面源黑体在0℃~50℃工作正常、黑体由当前温度升高或降低5℃所需时间小于2min、温度稳定性均优于0.02℃/h，温度均匀性均优于0.09℃，满足项目要求。     

宽温度范围大口径高精度变温标准黑体辐射源研制

红外成像探测系统的应用环境越来越复杂，工作适应温度范围低温可达到-50 ℃以下，高温可达到70 ℃以上。为满足相应要求，研制宽温度范围大口径高精度变温标准黑体辐射源，采用细分均匀加热、模糊PID自整定控制算法、双路配气保护等技术，满足高低温需求，同时开展腔型设计、超黑高发射率涂层等相应研究，保证了黑体辐射源的整体性能，确保完成相应功能。研制完成后，在高低温环境下进行了验证试验，可达到以下指标：有效发射率≥0.999，空腔开口直径≥60 mm，温度测量不确定度10 mK（k=2）。经验证，可满足宽温度范围条件红外探测系统的计量要求。