卫星用半导体器件失效模式和机理分布

以中国空间技术研究院电子元器件可靠性中心1987～1990四个年度数百份失效分析报告为依据,得到卫星用半导体器件解剖前失效模式分布:逻辑失控占36.3%,开路占22.2%等;失效机理分布:铝腐蚀占1 6.3%,使用不当占14.6%等。该项研究以第一手数据首次全面、系统指出卫星用器件失效模式和机理。为卫星可靠性设计、优选器件厂及器件厂采取措施提供重要依据。     

空间级元器件及过程确认文件

阐明了空间级元器件的定义、品质的6个特性及与宇航元器件的关系,从不同视角提出了PID的定义,探讨了PID与ISO9000质量管理体系以及国军标元器件质量保证大纲的关系,总结出在中国应用PID的原则,PID是实现空间级元器件的关键工具。     

加速构建中国宇航元器件标准体系大力支撑宇航元器件产品体系建设

分析国内外宇航元器件标准体系的现状与发展趋势,阐述宇航元器件标准体系对宇航元器件产品体系构建的支撑与推动作用,提出我国宇航元器件标准体系的指导思想、技术特点和总体设计等关键内容.     

半导体器件铝腐蚀的判别方法研究

半导体器件内部铝腐蚀是卫星用半导体器件主要的失效模式之一,快速准确地判断铝腐蚀具有重要意义。文章给出了判别方法和程序,并对方法中的关键技术进行研讨。