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针对现有下滑规律的不足,考虑水平发射和非水平发射两种情况,根据高斯曲线分别设计了一种指数平方下滑规律。仿真结果表明了所设计下滑规律的正确性和有效性。 相似文献
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为了准确检测介质片在3 mm频段的复介电特性,采用固定腔长法,研制了工作在101.80 GHz的测试介质片复介电常数准光学谐振腔测试系统。结果表明:腔体的品质因数达8×104,高斯波束的束腰半径为2.36 mm。复介电常数的测试范围ε′为2~8;tanδ为3×10-4~5×10-3,最可几误差为│Δε′/ε′│小于等于10%;│Δtanδ│小于等于20%tanδ+1×10-4。此方法能检测大面积介质片复介电常数的均匀性。 相似文献
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