可编程芯片在测控系统中的应用

分析了可编程芯片在设计测控系统中的应用，同以前的电子设计方法相比，使用可编程芯片可以大大简化测控系统电路部分的设计，并且可减小电子线路板的面积，从而使整个测试系统小型化；更重要的是由于使用了可编程芯片，一些复杂的算法可通过硬件实现，从而增强了测试系统的功能，最后给出了相关的工程实例。     

多组SIMU误差系数验前分布的融合建模方法

基于Bootstrap方法、随机加权法和数据融合理论,对某型捷联惯组误差系数的多组测试数据进行概率统计分析.首先,对33个误差系数的多组验前总体和当前总体分别进行方差和均值的齐性检验,结果发现有一些参数通过了方差齐性检验,但均值基本上都不能通过齐性检验.为此,针对这种异源总体验前分布的建模问题,定义了验前信息的质量权重;其次,提出一种多组小样本数据参数的Bootstrap和随机加权融合估计方法,得到某型惯组多组误差系数的融合验前分布密度;最后结合对不同批次、不同使用单位惯组的多组动态数据的初步统计分析,给出一些结论与建议.