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1.
相控阵天线阵元数量大、集成度高,其测试项目较一般天线多,由此导致其测试周期比一般天线长2倍~3倍,较长的研制周期严重制约了相控阵天线批产工作。小组为了解决这一问题,运用关联图进行原因分析,通过现场调查、测试验证等收集大量的数据,最终找到主要影响因素并制定针对性对策,圆满达成课题目标,缩短了相控阵天线的测试周期。  相似文献   
2.
场地校准误差对平面近场测试结果的影响分析   总被引:1,自引:0,他引:1  
  相似文献   
3.
文章给出了一种仅由幅度信息重构天线远场方向图的平面近场方法,以及由两组相互正交的线极化分量幅度信息获取圆极化天线方向图的远场(紧缩场)测试方法,并对该方法进行了实验验证。  相似文献   
4.
在某卫星工程设计中,对两副不同的天线能否频率复用进行了研究。首先从交叉极化隔离度、交叉极化鉴别率的定义出发,分析了两副天线增益、发射功率、交叉极化隔离度的差别对交叉极化鉴别率的影响;然后计算了由于两副天线的指向不同而引起的极化鉴别率的变化。  相似文献   
5.
文章描述了平面近场测试系统幅相漂移对测试结果的影响,提出了两种修正天线近场测试系统幅相漂移的方法,并对其优劣性做了比较,给出了用方法二修正的实验结果,分析了修正方法的适用范围。  相似文献   
6.
文章提出了两种对含变频器天线的近场测试方法,重点关注了射频系统的连接布局,并简要分析了各方案的可行性、优缺点及应用情况。  相似文献   
7.
文章提出了一种运用于平面近场测试时可以缩短测试时间的数学插值方法。给出了该插值方法的推导过程和运用实例,对结果进行比较分析,证明了此数值方法的有效性。  相似文献   
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