缩短相控阵天线的测试周期

相控阵天线阵元数量大、集成度高,其测试项目较一般天线多,由此导致其测试周期比一般天线长2倍~3倍,较长的研制周期严重制约了相控阵天线批产工作。小组为了解决这一问题,运用关联图进行原因分析,通过现场调查、测试验证等收集大量的数据,最终找到主要影响因素并制定针对性对策,圆满达成课题目标,缩短了相控阵天线的测试周期。