宇宙和暗物质

２０世纪主流科学家的意见是宇宙起源于一次大爆炸。据说那是在１５０亿或１２０亿年前，大爆炸形成了时间、空间和物质。数学物理教授图罗克最新提出的“开放暴胀”理论认为，宇宙最初是一个像豌豆大小的物体，悬浮于一片没有时间的真空，“豌豆”状的宇宙存在的时间与“大爆炸”相隔一个极短瞬间。他认为，“豌豆”状的宇宙在大爆炸前的瞬间内经历了被称为“暴胀”的极其快速的膨胀过程。根据大爆炸理论，宇宙由于爆炸不断膨胀，膨胀到一定程度又将坍塌，然后整个宇宙乌呼哀哉，所有的一切宣告消亡。虽然科学家宣称宇宙的消亡也要有一二百…     

立足先进技术 实现崭新跨越——访国际无损检测委员会荣誉委员耿荣生

无损检测是工业发展必不可少的有效工具,在一定程度上反映了一个国家的工业发展水平,其重要性已得到公认。中国在1978年11月便已成立了全国性的无损检测学术组织——中国机械工程学会无损检测分会。在航空航天领域,无损检测技术的应用前景及未来发展趋势怎样?要不断提高我国无损检测技术水平,应重点关注哪些方面?为此,本刊记者对国际无损检测委员会(ICNDT)荣誉委员耿荣生教授进行了专访。     

创新突破 展望未来——访中航工业北京赛福斯特技术有限公司总经理栾国红

<正>:北京赛福斯特技术有限公司作为中国搅拌摩擦焊技术先锋,在引领此项技术发展及相关产业发展方面做了哪些富有成效的工作?栾国红:赛福斯特公司成立以来,作为中国地区搅拌摩擦焊技术推广中心,致力于搅拌摩擦焊技术在中国的发展和推广应用,先后承担国家级及省部级科研项目数十项,研发方向覆盖了技术机理、产品工艺、新技术新方法、结构强度与可靠性、工程化应用以及型号产品应用等诸多方面,迄今发表学术论文     

光盘形结构风荷载的风洞实验研究

应用风洞模拟实验研究了光盘形状结构的风荷载特性.风洞实验结果表明,在没有周围建筑物影响时,由于光盘形结构的截面具有对称翼型,上、下表面受到风荷载基本上都是负压分布,叠加后作用在光盘结构上的总体风荷载很小.周围建筑的存在对光盘形的风荷载影响很大,有周围建筑时光盘形结构所受的升力要比没有周围建筑时的值大1～3倍以上.特别有趣的是单独光盘形结构的整体风荷载除了受到一个升力的作用外,还受到了一个迎风低头的翻转力矩,为类似结构的风荷载设计提供了有益的启示.     

回忆冯仁义同志二三事

人民空军第一批飞行员，飞行大队长冯仁义     

压气机转子叶片掉块失效机理分析

针对航空发动机压气机转子叶片在工作中发生的掉块故障,通过对故障叶片进行宏观检查、断口分析、叶尖端面检查、 材质及有限元分析等工作,确定了压气机转子叶片掉块的性质和原因。结果表明：叶片掉块性质源于叶尖与加强筋之间前缘区域 叶盆侧表面的疲劳裂纹,裂纹扩展并产生瞬时断裂,最终形成掉块。排除了叶片由外来物打伤及材质和冶金缺陷等异常因素造成 掉块的可能性。掉块原因为故障叶片叶尖与机匣封严涂层之间存在较重的非均匀碰摩,在叶片进气边叶尖与加强筋之间区域产 生应力集中,在振动应力和离心载荷的共同作用下,导致叶片萌生疲劳裂纹并扩展,进而形成掉块。为避免类似故障再次发生,建 议适当加大转子叶片与机匣的径向间隙,并严格控制装配质量和机匣封严涂层尺寸。     

同步脱氮除硫反应影响因素的研究进展与展望

阐述了硫酸盐型厌氧氨氧化同步脱氮除硫的反应机制,总结了反应物之间的比值、PH、微生物群落三个方面对该技术的影响以及同步脱氮除硫的最适值。为今后做进一步研究提出了建议。     

磁性金属纤维与树脂混合物的有效介电常数和有效磁导率的预测

提出了一个预测磁性金属纤维与树脂混合物的有效介电常数与有效磁导率的方法.首先推导了单根纤维的磁矩、电矩、表观介电常数和表观磁导率的计算公式;分析了纤维的表观磁导率与纤维的几何尺寸间的关系,说明了高磁导率的机理.然后用Maxwell-Garnett 模型计算了纤维以不同方式分布的混合物的有效介电常数和有效磁导率.     

单晶叶片基体表面微裂纹成因分析

单晶高温合金是制造先进航空发动机涡轮叶片的主要材料，其优异性能主要来源于消除了与主应力轴垂直的晶界，而 单晶材料中如果出现再结晶会显著降低其高温力学性能。为探究发动机单晶涡轮导向叶片试验后在叶身前缘下缘板R区产生裂 纹的原因，利用视频显微镜、金相显微镜和扫描电镜等手段对裂纹截面组织进行宏、微观分析，明确了R区的宏观裂纹为抗氧化涂 层裂纹，宏观裂纹附近的叶片基体存在由于叶片表面胞状再结晶晶界开裂所引起的微裂纹。结果表明：单晶叶片表面产生胞状再 结晶主要与叶片抛光、吹砂等修整过程中引入的塑性变形及后续的钎焊工艺有关；抗氧化涂层的开裂促进了胞状晶晶界的开裂； 通过对导向叶片的多个截面组织进行对比分析，发现高温能够加速胞状再结晶的晶界开裂。     

现代表面分析——俄歇电子谱(AES)和X-射线光电子谱(XPS)在冶金学中的应用 第一讲 AES和XPS技术的基础

现代表面分析技术已广泛应用于当代科学的各个领域中。应用俄歇电子谱学(AES)与X-射线光电子谱学(XPS或ESCA)研究自由表面或内界面的化学成分分布及化合物的化学结合状态,对于分析金属材料、复合材料以及粘接、镀层、腐蚀等领域有关结合强度、断裂机理、缺陷成因等问题有重要意义。对于电子元器件失效分析,这些技术尤为重要。 从本期开始,我们将组织稿件介绍有关这些先进分析技术的基础理论和在材料工艺研究中的应用情况。