对标准微电路型号质量等级代码“M”的新认识

美国军用标准体系在20世纪90年代初进行重大改革,将军用标准体系从以生产线认证和产品鉴定的合格产品目录(QPL)模式转向以生产线认证和工艺流程鉴定为基础的合格生产厂目录(QML)模式,由于新体系允许旧体系下的产品进行过渡,造成目前国内对美国标准微电路型号(SMD)质量等级代码"M"存在错误的认识。标准微电路型号质量等级代码"M"包括"M"和"空白"。通过对美国军用标准体系过渡前后的研究和分析,结合美国国防部电子供应中心(DSCC)发布的文件以及MIL-PRF-38535中的相关条款,发现质量等级代码"M"可能的质量等级为M级或Q级。     

新形势下武器装备用元器件质量等级选择的合理性研究与应用

结合新形势下武器装备用元器件自主保障的要求和武器装备高可靠、长贮存寿命、高性能的需要,剖析了原有武器装备用元器件在质量等级选择方面存在的问题,对新一代武器装备如何选择合理质量等级的元器件进行了研究,提出了改进措施并在新型号研制中进行了推广应用。     

元器件应用验证技术及其工程实践

应用验证是对国产元器件在上装应用前开展的一系列试验、评估和综合评价工作,评价元器件研制的成熟度和型号装备应用的适用度,以确定其在型号装备的可用度。本文对元器件应用验证的技术内涵、方法和平台、技术流程、关键技术及其与系统工程的关系等进行了分析研究。通过型号装备研制中的应用验证工程实践,剖析了对装备应用要求了解不足和理解不深、元器件研制技术未吃透、产品应用状态了解不足等在应用验证中发现的典型问题案例,提出了后续开展应用验证工作的建议。