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| 对标准微电路型号质量等级代码“M”的新认识 | |
| 引用本文： | 曾英廉,王昆黍,祝伟明.对标准微电路型号质量等级代码“M”的新认识[J].质量与可靠性,2011(6):54-59. |
| 作者姓名： | 曾英廉 王昆黍 祝伟明 |
| 作者单位： | 上海精密计量测试研究所; |
| 摘 要： | 美国军用标准体系在20世纪90年代初进行重大改革,将军用标准体系从以生产线认证和产品鉴定的合格产品目录(QPL)模式转向以生产线认证和工艺流程鉴定为基础的合格生产厂目录(QML)模式,由于新体系允许旧体系下的产品进行过渡,造成目前国内对美国标准微电路型号(SMD)质量等级代码"M"存在错误的认识。标准微电路型号质量等级代码"M"包括"M"和"空白"。通过对美国军用标准体系过渡前后的研究和分析,结合美国国防部电子供应中心(DSCC)发布的文件以及MIL-PRF-38535中的相关条款,发现质量等级代码"M"可能的质量等级为M级或Q级。 |
| 关 键 词： | 标准微电路型号 质量等级 M级 Q级 |
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