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理想导体表面电磁散射的高阶微扰解   总被引:2,自引:1,他引:2  
针对经典微扰法(SPM)求解粗糙表面电磁散射特性存在的问题,提出了一种基于二维表面场的一阶和二阶展开近似高阶微扰算法。用该法计算了高阶表面场分量的全极化后向散射SPM解和二阶场分量对水平极化双站及后向散射系数的修正解。研究了不同粗糙度下掠入射时高阶SPM求解的双站散射系数,以及不同方位角下高阶场量的散射特性。通过对合成场的修正,解决了近掠入射条件下散射系数计算的误差。数值计算结果证明该算法有效。  相似文献   
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