首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   2篇
  免费   0篇
  国内免费   7篇
航天技术   1篇
航天   8篇
  2020年   1篇
  2011年   1篇
  2010年   1篇
  2009年   2篇
  2008年   3篇
  2004年   1篇
排序方式: 共有9条查询结果,搜索用时 15 毫秒
1
1.
KM6水平舱综合复压系统设计与仿真分析   总被引:1,自引:1,他引:0  
综合复压系统是载人地面试验设备的重要分系统之一,主要用于载人试验一旦出现重大故障和事故时,对试验舱进行紧急复压,让舱体迅速恢复到正常大气压力环境。文章介绍了KM6水平舱综合复压系统的流程设计;对系统的紧急复压能力进行了数值计算和仿真分析,其结果与系统调试结果基本吻合。表明仿真模型的建立及分析正确可信,综合复压系统流程设计能够满足设计要求。  相似文献   
2.
为了完成航天员的出舱活动任务,必须建设可以验证航天员出舱活动适应性的地面试验设备。文章描述了航天员出舱活动地面试验设备的系统构成、性能指标以及实现方法,给出了航天员出舱活动试验过程的实际过程曲线。试验结果表明:该地面试验设备可以满足航天员出舱活动试验任务的要求,拓宽了空间环境地面试验的领域范围,提升了空间环境地面模拟的能力,并为后续有人参与的空间环境地面试验提供了能力保证。  相似文献   
3.
4.
真空室压升法测量液态工质漏率可行性分析   总被引:1,自引:1,他引:0  
文章旨在探讨压升法测量液态工质漏率的可行性,研究液体泄漏的试验方法。首先根据液体饱和蒸气压的理论分析,得出液体挥发引起的定容压力增量;之后通过微进样系统,采用真空室静态升压方法,分别以全氟三乙胺和乙二醇水溶液为研究对象进行试验分析,研究得出漏入液体量V与压力变化ΔP成线性关系,与理论分析计算结果相符合,证明了压升法测液态工质漏率的可行性;最后提出了微量采样系统进行比对测量液态工质漏率的压升试验方法及计算公式。研究结果表明,压升法可有效地测量液态工质漏率,为液体的流动试验研究提供参考依据。  相似文献   
5.
文章根据人-船-服试验对KM6气闸舱的要求,分析了舱内环境的几种积累效应,对气闸舱环境控制系统进行了设计,成功地解决了舱内环境控制中CO2置换、低压缺氧以及降压速率等问题,同时配备了气体成分实时监测设备,可以对舱内环境进行严格监测。  相似文献   
6.
利用多种气体分析仪,采取四级质谱定量分析技术,分别测定He、N2、Ne、CF4、Kr等气体在不同入口压力下通过不同的人造漏孔的漏率;经过对同工况下气体间漏率比对,研究气体间漏率等效关系。试验结果表明:气体在不同工况下处于不同的流动领域,且其漏率与入口压力存在着不同的数值关系,经分析试验结果得出适用于气体全流域的漏率经验公式;气体间漏率的等效关系在低漏率及高漏率端始终呈平滑的线性关系,而在中间的过渡区域呈四或五次多项式关系;但是CF4与He的漏率等效性呈线性关系,显示出多原子分子与单、双原子分子在粒子输运过程中存在着差异。试验结果为示漏工质漏率指标的制定提供了基础数据。  相似文献   
7.
液态工质与示漏气体He的漏率等效关系研究   总被引:1,自引:1,他引:0  
研究密封管路液态工质与示漏气体He间的漏率等效关系,对提高检漏工作的准确性和可靠性有着重要意义。文章以环控生保系统中密封管路所用的液态工质(全氟三乙胺,乙二醇)为研究对象,对液体的流态及泄漏的相态进行理论分析,得出液态工质与He气漏率等效关系的数值区间,并利用质谱分析技术,采用金属压扁型漏孔模拟真实的泄漏孔隙进行试验研究。试验结果表明,液态工质与示漏气体的漏率比值在理论数值区间之内,流动过程中呈现两相流的状态,并且乙二醇的漏率要比He气小,而全氟三乙胺的漏率要比He气大。试验结果为研究液体泄漏过程及液、气漏率等效关系提供了基本方法和基础数据。  相似文献   
8.
空间站在轨密封检漏技术研究   总被引:3,自引:0,他引:3  
空间站除了在地面需要进行充分的总装检漏试验之外,还必须进行在轨运行时的密封检漏,这对于保证航天员的安全和飞行任务的成功非常重要。文章提出了空间站总漏率实时监测技术、空间站结构泄漏点定位与定量检测技术、航天员舱外检漏技术,以及空间站结构泄漏堵漏技术的具体方案和技术途径,并对关键技术做了比较充分的分析。该系统技术的研究与发展能为空间站的在轨泄漏检测提供可靠的保障。  相似文献   
9.
文章简要介绍了目前国外使用的几种主要的空间环境污染监测仪器,对温控石英晶体微量天平、石英晶体粒子微量天平、电离规、热涂层热量计和光散射传感器的原理、结构及特性分别进行了阐述.  相似文献   
1
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号