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1.
一种基于可靠性数学的电磁兼容性分析方法研究   总被引:2,自引:0,他引:2  
以系统可靠性预计理论为切入点,分析系统可靠性与系统级电磁兼容性的关联性。分析基于电磁干扰"三有限"和可靠性"三规定"的电磁兼容性预测方法。初步建立系统级电磁兼容性指标和性能降级的准则,给出包括串联、并联、混联等几种典型的系统电磁兼容预测模型和预测方法,最后得出基于可靠性预计理论的系统级电磁兼容预测公式,进而为预测电磁兼容性奠定了条件。采用所提方法对某军用计算机系统进行系统级的电磁兼容性预测,预测结果证明了方法的有效性及可实施性。  相似文献   
2.
射频接收机系统级建模中的噪声谱分析   总被引:3,自引:1,他引:2  
提出了一种在有限的系统参数下进行射频接收机系统建模时,各子电路噪声参数的分析和计算方法.从噪声功率谱的等效计算出发,给出了加性高斯白噪声通过有噪线性电路的分析方法.以一通信电台为例进行了分析计算,在给定有限的系统参数(信噪比,灵敏度,增益等)下分析出合理的各子电路的噪声参数,并进行建模仿真验证,理论结果与仿真结果较好吻合,表明了分析方法的有效性.该噪声功率谱的等效分析计算方法对射频系统建模有很好的指导作用.   相似文献   
3.
辐射安全裕度是系统级电磁兼容性的关键指标,是保证系统能够在使用环境下正常工作的前提。从安全裕度的定义出发,分析外部电磁环境对于系统安全裕度的重要意义,指出现有辐射安全裕度试验方法的缺陷。提出用于评估外部电磁环境的两种方法,并指出考虑外部电磁环境后辐射安全裕度测试的难点。文中还分析了系统对外部电磁环境的感应特性,提出一种新的辐射安全裕度测试方法,降低了测试难度,使安全裕度测试更加全面、有效。  相似文献   
4.
电路板电源总线的分析非常复杂,虽然传统腔模方法是分析电路板电源总线的一种非常有效的方法,但是该方法具有收敛速度慢,计算时间长和不能分析电源总线辐射发射的缺点.在该算法的基础上,改进二重级数和形式的电源总线辐射发射方法并提出了单一级数和形式的电源总线辐射发射表达式.在此基础上指出了单一级数腔模理论解的适用条件,并对该快速算法的收敛性进行了分析.分析表明,该方法减少了传统二重级数求和的计算工作量,提高了收敛效率并节省了计算时间,而且能够有效逼近双级数腔模辐射算法的计算结果.通过对电路板的辐射发射数值仿真验证了该算法的有效性和正确性.  相似文献   
5.
天线系数的测试误差与NSA测试的改进   总被引:1,自引:1,他引:0  
总结了归一化场地衰减(NSA,The Normalized Site Attenuation)测试中存在的误差,指出误差主要来源于天线系数.通过对天线互阻抗的分析,说明它是天线系数误差的主要来源.简单介绍了天线系数的标准计量方法,发现其中并未考虑互阻抗的影响;修正了天线系数计量中采用的方程组,证明该方程组不能求解.分析了减小测试天线间互阻抗误差的因素,重新设计了一种新的测试方法.新方法使用天线增益替代天线系数,利用天线增益测试的必要条件避免互阻抗的影响;证明了新方法与原方法的原理间的等价条件;通过实测验证了新方法的有效性.   相似文献   
6.
为突破实际测试当中的局限,研究了横电磁波传输(TEM)室频率范围的扩展方法。运用电磁场与微波技术相关原理,通过分析TEM室壳体开缝对高次模的影响,利用壳体表面电流分布变化规律和波导缝隙天线原理重新解释了开缝对高次模的抑制作用,进而提出了一种TEM室壳体表面开缝的设计方法。通过电磁场数值仿真,验证了抑制高次模工程方法的有效性,并对其控制参数和约束条件的准确性进行了分析评估;通过加工实物并进行实测,进一步验证了新方法的效果。仿真与测试结果表明,开缝抑制高次模的工程方法能够在不减小测试空间与影响主模传输的前提下,将测试带宽扩展了42.9%。   相似文献   
7.
双绞线的螺距误差会直接影响其抗干扰水平,螺距误差的随机性会造成双绞线串扰预测的不确定性.通过双绞线制作原理的分析,利用制作参数可以较准确得到任意双绞线螺距误差的概率密度.采取等弧度离散法和广义多端口网络的概念,快速建立非均匀螺距双绞线的频域串扰模型,得到感性耦合和螺距误差的关系.基于螺距误差的概率密度函数,可以有效分析任意双绞线串扰的统计特性.仿真结果表明双绞线制作参数转轴角速度的均值和方差是影响双绞线感性耦合大小的关键因素,在双绞线制作过程中必须予以考虑,以保证双绞线的抗干扰能力.   相似文献   
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