用仿真实验研究装备中一类非线性混沌振动的主动隔振

笔者运用主动隔振原理 ,对Duffing非线性振子 ,设计了参数自调节的PID控制算法 ,对Duffing振子混沌振动进行了主动隔振数值仿真实验 ,实现了对混沌振动的良好隔振。仿真结果表明 :在混沌振动中应用主动隔振技术的有效性。     

K6R4016V1D芯片在低地球轨道发生单粒子效应频次的分析

俄罗斯福布斯-土壤火星探测器于2011年11月9日携带中国首个火星探测器萤火一号进入低地球轨道(LEO),但原定于159min后探测器在轨发动机点火变轨未能实施,最终探测计划失败.俄罗斯航天局研究分析认为,事故最可能是由于宇宙线重离子轰击星载计算机存储器件,导致两台计算机重启所致.但是抗辐射专家对空间辐射粒子会在如此短时间内通过单粒子效应(SEE)导致LEO探测器失效的观点并不认同.本文根据俄罗斯航天局发布的受影响器件信息,通过实验和计算,分析了K6R4016V1D芯片在低地球轨道运行时可能遇到的空间辐射粒子诱发单粒子效应的频次,探讨了单粒子效应导致福布斯-土壤火星探测器失效的可能性.      

脉冲激光诱发65nm体硅CMOS加固触发器链的单粒子翻转敏感度研究

针对65 nm体硅CMOS工艺触发器链,利用脉冲激光研究了敏感节点间距、加固结构和测试数据类型等因素对电路的单粒子翻转效应（SEU）敏感度的影响。研究表明:敏感节点间距增大可有效提高双互锁存（dual interlocked storage cell, DICE）结构触发器链的抗SEU性能,但当敏感节点间距较大（如＞4.0 μm）时,间距增大的器件加固效果减弱;触发器单元中NMOS管经保护漏结构加固、PMOS管经保护环结构加固后其SEU敏感度明显降低;不同数据测试模式下触发器链的SEU敏感度不同,这可能与不同模式下单元中的敏感晶体管类型不同有关。此外,脉冲激光作为一种地面模拟手段,可有效用于确定单粒子敏感器件设计的最佳间距和验证防护效果。     

机载电子设备大气中子单粒子效应脉冲激光实验方法研究

大气中子诱发的单粒子效应（NSEE）危害机载电子设备的可靠性安全性,而其作用机理、传播机制与空间SEE有所不同,且缺乏系统级实验研究和具体分析技术。文章对比常规机载电子设备NSEE实验手段,鉴于激光技术具有可精确分辨SEE时空特性、能量连续可调、无放射性、无须抽真空、操作便捷、实验效率高、成本低等特点,探讨脉冲激光实验的阈值等效评估技术、器件敏感功能单元定位技术和故障注入技术;针对电源转换电路关键器件进行失效验证,快速获取了器件—电路—系统的故障特征,包括故障传递模式和阈值条件,为机载电子设备的系统级失效分析提供了有效输入,并期指导机载电子设备抗大气中子单粒子效应的研究、防护设计和验证评价。     

BNi71CrSi钎料钎焊Hastelloy N合金的接头组织和性能

采用无硼BNi71CrSi钎料实现了Hastelloy N合金的高质量真空钎焊连接。通过扫描电子显微镜（SEM）和能谱仪（EDS）对不同钎焊温度和保温时间下获得接头的微观组织及成分进行了分析。结果表明：Hastelloy N合金接头组成为：母材/扩散区/等温凝固区/非等温凝固区/等温凝固区/扩散区/母材。非等温凝固区主要由γ-Ni固溶体、Ni₂Si和M₆C组成（M=Ni, Mo, Si, Cr）;等温凝固区主要组成为γ-Ni固溶体；母材与等温凝固区之间的扩散区中基体为Ni基固溶体，析出相为M₆C。随着钎焊温度的升高和保温时间的延长，非等温凝固区宽度逐渐减小，等温凝固区宽度逐渐增加，接头经历由3区域（无等温凝固区）→4区域→3区域（无非等温凝固区）的演化过程。此外，随着钎焊温度的升高，钎缝内硅化物数量减少，γ-Ni固溶体晶粒长大；随着保温时间的延长，接头中心位置的硅化物和碳化物数量减少，母材/等温凝固区之间扩散区内碳化物数量增加，尺寸变大。在所研究的钎焊工艺下，当钎焊温度1 240℃,保温10 min时获得的接头剪切强度最...