| K6R4016V1D芯片在低地球轨道发生单粒子效应频次的分析 |
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| 引用本文： | 韩建伟,封国强,余永涛,马英起,上官士鹏,陈睿,朱翔.K6R4016V1D芯片在低地球轨道发生单粒子效应频次的分析[J].空间科学学报,2015,35(1):64-68. |
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| 作者姓名： | 韩建伟 封国强 余永涛 马英起 上官士鹏 陈睿 朱翔 |
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| 作者单位： | 中国科学院空间科学与应用研究中心 北京100190 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金项目资助 |
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| 摘 要： | 俄罗斯福布斯-土壤火星探测器于2011年11月9日携带中国首个火星探测器萤火一号进入低地球轨道(LEO),但原定于159 min后探测器在轨发动机点火变轨未能实施,最终探测计划失败.俄罗斯航天局研究分析认为,事故最可能是由于宇宙线重离子轰击星载计算机存储器件,导致两台计算机重启所致.但是抗辐射专家对空间辐射粒子会在如此短时间内通过单粒子效应(SEE)导致LEO探测器失效的观点并不认同.本文根据俄罗斯航天局发布的受影响器件信息,通过实验和计算,分析了K6R4016V1D芯片在低地球轨道运行时可能遇到的空间辐射粒子诱发单粒子效应的频次,探讨了单粒子效应导致福布斯-土壤火星探测器失效的可能性.
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| 关 键 词： | 福布斯-土壤 火星探测器 K6R4016V1D芯片 单粒子效应 |
Analysis of Single-event Effects Rate of K6R4016V1D Chips Applied in Low Earth Orbit |
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| HAN Jianwei,FENG Guoqiang,YU Yongtao,MA Yingqi,SHANGGUAN Shipeng,CHEN Rui,ZHU Xiang.Analysis of Single-event Effects Rate of K6R4016V1D Chips Applied in Low Earth Orbit[J].Chinese Journal of Space Science,2015,35(1):64-68. |
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| Authors: | HAN Jianwei FENG Guoqiang YU Yongtao MA Yingqi SHANGGUAN Shipeng CHEN Rui ZHU Xiang |
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| Institution: | HAN Jianwei;FENG Guoqiang;YU Yongtao;MA Yingqi;SHANGGUAN Shipeng;CHEN Rui;ZHU Xiang;Center for Space Science and Applied Research,Chinese Academy of Sciences; |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | Phobos-Grunt Mars probe K6R4016V1D chip Single-event effects |
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