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11.
12.
郝雷%刁训刚%顾宝霞%王天民 《宇航材料工艺》2008,38(2):26-29
采用多弧离子镀制备了多彩Al/TiNO(掺氮TiO2)薄膜,利用SEM观察了薄膜的表面、断面形貌,并测量了其膜厚.采用XRD研究了薄膜的相结构.利用紫外一可见分光光度计研究了TiNO膜的可见光谱特性,用红外比辐射率测量仪测量了样品的红外发射率.结果表明:在不改变Al箔在8~14 um波段低红外发射率的情况下,实现了其物理着色.所得薄膜为锐钛矿型TiO2结构,薄膜表面平整、致密,结合力较好.TiNO薄膜呈明显柱状生长,薄膜试样表面未出现明显缺陷,薄膜表面致密,柱状颗粒生长完好.TiNO薄膜的沉积速率达120 nm/min. 相似文献
13.
顾宝霞%刁训刚%郝雷 《宇航材料工艺》2008,38(3):58-61
采用化学液相沉淀法获得了具有核层结构的 Al/ SiO2/Fe2O3颜料,在基本不改变Al粉在8~14靘波段红外发射率的情况下,实现了片状Al粉的物理着色.分析了正硅酸乙酯(TEOS)水解一缩聚反应及氯化铁水解反应机理,并以此制备了Al/SiO2/Fe2O3三层结构的复合粒子,研究了包覆的工艺条件.通过扫描电镜、能谱、X射线衍射、紫外-可见光吸收谱等方法对包膜后的片状Al粉粒子进行了分析与表征.实验结果表明,通过液相沉积法在Al粉表面成功包覆了SiO2/Fe2O3薄膜,得到了低红外发射率的迷彩Al粉颜料. 相似文献
14.
15.
低太阳吸收率αs,高发射率ε有机硅热控涂层进展 总被引:2,自引:1,他引:1
本文总结了有机硅热控涂层的设计原理及其紫外真空降解原因,评述了涂层的国内外进展. 相似文献
16.
国外为了提高计算机硅片的集成度和产品的合格率,开展了硅片快速热处理的研究,在这项新技术中温度测量起着关键的作用,由于地快速热化学蒸汽沉积过程中,硅片表面发射率变化影响了测温的准确性。本文介绍了在用辐射法测温时,同时测辐射量和反射率2个参数,然后由反射率计算发射率,通过计算机对测量结果进行了补偿的新技术,并介绍了原理,实验设备和初步实验结果。 相似文献
17.
纳米硫化物半导体颜料的制备及其红外发射率研究 总被引:10,自引:0,他引:10
为了制备出在8~14μm红外波段具有较低红外发射率的颜料粉体,本文以醋酸镉Cd(AC)2.2H2O,醋酸锌Zn(AC)2.2H2O,硫化钠Na2S.2H2O为原料,采用化学均匀沉淀法在水浴中制备了平均粒径40nm左右的CdZnS固溶体纳米粒子。分析了实验反应过程中反应时间、反应温度和搅拌速度对CdZnS纳米粒子半径尺寸的影响。通过XRD,BET(ASAT2010)比表面仪和TEM表征,研究了粉体的粒度、结构和表面形貌等特征;通过IR-1红外发射率测量仪器测试了粉体在8~14μm波段的红外发射率。作者着重讨论了粉体粒径和8~14μm波段红外发射率之间的关系。并对此给出了一定的解释。 相似文献
18.
酞菁蓝对红外低发射率涂层色泽的影响 总被引:1,自引:0,他引:1
为了增加红外低发射率涂层的色彩、降低涂层明度和光泽度,采用添加纳米颜料的方法制备了一种蓝色系的红外低发射率涂层。研究了颜料添加量对涂层发射率、涂层颜色和光泽度的影响,并测定了涂层的力学性能和耐中性盐雾腐蚀性能。实验结果表明:涂层在8~14μm时红外发射率为0.3左右;涂层的明度和光泽度均随着颜料添加量增大而降低,颜料添加量为25%的涂层相对于0%添加量的涂层,其明度降低28.8%,光泽度(60°)降低54.5%;并且涂层具有较为优异的力学性能和耐腐蚀性能。 相似文献
19.
以Al粉、Sm_2O_3为颜料,环氧改性有机硅为黏合剂,采用喷涂法制备了环氧改性有机硅/Al-Sm_2O_3复合涂层。研究了不同耐热温度及耐热时间对涂层外观、微结构、近红外反射率、红外发射率及力学性能的影响。结果表明:所制备涂层在300℃下热处理5 h后,其外观、微结构保持不变;发射率和1.06μm近红外反射率可分别低至0.607和64.7%;涂层的硬度、附着力和耐冲击强度等力学性能可分别保持在4 H、1级和50 kg·cm;所制备涂层在250℃下热处理100 h后,其外观、微结构仍然保持不变;发射率和1.06μm近红外反射率可分别低至0.624和67.1%;涂层的硬度、附着力和耐冲击强度等力学性能可分别保持在4 H、1级和50 kg·cm。 相似文献
20.
提出了一种基于热流反演方法的表面发射率测试方法,并应用该方法对火箭发动机用热防护材料镀铝薄膜表面发射率进行了测量。试验在真空舱中进行,利用石英灯对试片进行加热,建立了由石英灯和试片组成的热交换系统,根据传热理论推导出了包含试片表面发射率的传热方程。依靠热电偶测量试片温度变化,反演得到表面热流,代入传热方程,获得试验用镀铝薄膜表面发射率约为0.12。此外,还采用集总参数法对镀铝薄膜表面发射率进行了计算,两者结果相差小于1.5%。提出的发射率测试方法虽然不能得到光谱发射率,但已经可以满足工程应用,且简单易行。 相似文献